| 出願番号 |
特願2011-263126 |
| 出願日 |
2011/11/30 |
| 出願人 |
国立大学法人 千葉大学 |
| 公開番号 |
特開2013-117377 |
| 公開日 |
2013/6/13 |
| 登録番号 |
特許第5867855号 |
| 特許権者 |
国立大学法人 千葉大学 |
| 発明の名称 |
断層像測定装置 |
| 技術分野 |
情報・通信 |
| 機能 |
機械・部品の製造、制御・ソフトウェア |
| 適用製品 |
断層像測定装置 |
| 目的 |
光学素子の欠陥を簡便に発見、測定することのできる断層像測定装置を提供する。 |
| 効果 |
本発明により、光学素子の欠陥を簡便に発見、測定することのできる断層像測定装置を提供することができる。
本装置は、不必要な方向に進む光を遮断することが可能となり、より精密な測定を可能とすることができる。 |
技術概要
 |
本発明の一手段にかかる断層像測定装置は、測定対象からの光を屈折させて集光させる第一のレンズと、第一のレンズを透過した光の光路長を調整する光路調整部と、光路調整部からの光を撮像素子上に集光させる第二のレンズと、を有し、光路調整部は、回転板と、回転板を駆動する駆動部と、回転板上に配置される回転反射部材と、を有することを特徴とする。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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