断層像測定装置

開放特許情報番号
L2014000362
開放特許情報登録日
2014/2/19
最新更新日
2016/3/23

基本情報

出願番号 特願2011-263126
出願日 2011/11/30
出願人 国立大学法人 千葉大学
公開番号 特開2013-117377
公開日 2013/6/13
登録番号 特許第5867855号
特許権者 国立大学法人 千葉大学
発明の名称 断層像測定装置
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア
適用製品 断層像測定装置
目的 光学素子の欠陥を簡便に発見、測定することのできる断層像測定装置を提供する。
効果 本発明により、光学素子の欠陥を簡便に発見、測定することのできる断層像測定装置を提供することができる。
本装置は、不必要な方向に進む光を遮断することが可能となり、より精密な測定を可能とすることができる。
技術概要
本発明の一手段にかかる断層像測定装置は、測定対象からの光を屈折させて集光させる第一のレンズと、第一のレンズを透過した光の光路長を調整する光路調整部と、光路調整部からの光を撮像素子上に集光させる第二のレンズと、を有し、光路調整部は、回転板と、回転板を駆動する駆動部と、回転板上に配置される回転反射部材と、を有することを特徴とする。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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