磁気光学特性測定装置及び磁気光学特性の測定方法

開放特許情報番号
L2014000194
開放特許情報登録日
2014/1/24
最新更新日
2014/1/24

基本情報

出願番号 特願2009-189456
出願日 2009/8/18
出願人 日本放送協会
公開番号 特開2011-039008
公開日 2011/2/24
登録番号 特許第5297299号
特許権者 日本放送協会
発明の名称 磁気光学特性測定装置及び磁気光学特性の測定方法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア
適用製品 磁気光学特性測定装置及び磁気光学特性の測定方法
目的 強磁性体の試料の異方性磁場等の磁気光学特性を精度よく、安価で簡便に測定することができる磁気光学特性測定装置及び磁気光学特性の測定方法を提供する。
効果 強磁性体の試料の異方性磁場等の磁気光学特性を精度よく、安価で簡便に測定することができる。また、格段にレーザ光源の装置を小型化することができるので、磁気光学特性装置全体としての装置を小型化することができる。
偏光成分検出手段を安価な光量検出手段、たとえば、フォトダイードを用いて構成することができる。
試料の磁気特性光学特性を測定することができ、強磁性体の試料の磁気光学特性の測定において空間分解能を向上させることもできる。
技術概要
磁気光学特性測定装置1は、レーザ光源2が試料Fの磁化の光励起歳差運動の周期に同期可能な高繰り返し周期の光パルス列を発生し試料に照射するモードロックレーザであり、外部磁場印加手段4が試料に所定の外部磁場を電磁石により印加させ、偏光検出器5は光パルス列が試料で反射した反射光を検出して、偏光成分を磁気光学信号として出力し、制御装置6が外部磁場印加手段を制御して試料の磁化の光励起歳差運動が光パルス列の周期に同期したときの外部磁場と磁気光学信号とを共鳴条件として取得し、共鳴条件での光パルス列の周期と外部磁場の強度と磁気光学信号とを用いてLLG方程式に基づき試料の磁気光学特性である有効内部磁場又は異方性磁場とダンピングファクタとを算出する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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