| 出願番号 |
特願2012-126314 |
| 出願日 |
2012/6/1 |
| 出願人 |
学校法人立教学院 |
| 公開番号 |
特開2013-250210 |
| 公開日 |
2013/12/12 |
| 登録番号 |
特許第5930460号 |
| 特許権者 |
学校法人立教学院 |
| 発明の名称 |
Ｋ−Ａｒ年代測定装置及び方法 |
| 技術分野 |
情報・通信 |
| 機能 |
機械・部品の製造、検査・検出、制御・ソフトウェア |
| 適用製品 |
Ｋ−Ａｒ年代測定装置及び方法 |
| 目的 |
ＬＩＢＳ法を用いて同一岩石試料に含まれるＫとＡｒとを測定可能にすることによって、試料が異なることに起因する測定誤差を減少させると共に、様々な岩石採取地点において岩石の年代測定を可能にする可搬型の年代測定装置を提供する。 |
| 効果 |
測定精度を大幅に向上させることができると共に装置を大幅に小型化して可搬型の装置を実現することができる。
また、誤差要因を取り除く事ができ、測定精度が飛躍的に向上する。更に、分光にトロイダル型凹面回折格子を用いることで部品点数を減らすことができる。
本発明の装置は、宇宙で使用された実績のある部品で構成され、小型軽量であるため、惑星着陸機に搭載できる可能性があり、試料を持ち帰ることなく現場で年代測定を行なうことが可能となるため、月惑星科学に対する大きな貢献が期待される。 |
技術概要
 |
Ｋ−Ａｒ年代測定装置１は、岩石試料２の表面にパルスレーザ光を集光させるパルスレーザ装置３と、試料２の表面から蒸発し励起した物質から発光された光４を分光するように配置されたトロイダル型凹面回折格子５と、トロイダル型凹面回折格子５の１次光６に含まれる波長107nmのＡｒ輝線を真空紫外領域で検出するように配置された検出器８（マイクロチャンネルプレート（ＭＣＰ）及びマルチアノードの組み合わせ）と、トロイダル型凹面回折格子５の０次光７に含まれる波長767nmのＫ輝線を検出するため配置されたバンドパスフィルタ９及びフォトダイオード１０と、を備える。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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