K−Ar年代測定装置及び方法

開放特許情報番号
L2014000134
開放特許情報登録日
2014/1/21
最新更新日
2016/7/27

基本情報

出願番号 特願2012-126314
出願日 2012/6/1
出願人 学校法人立教学院
公開番号 特開2013-250210
公開日 2013/12/12
登録番号 特許第5930460号
特許権者 学校法人立教学院
発明の名称 K−Ar年代測定装置及び方法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造、検査・検出、制御・ソフトウェア
適用製品 K−Ar年代測定装置及び方法
目的 LIBS法を用いて同一岩石試料に含まれるKとArとを測定可能にすることによって、試料が異なることに起因する測定誤差を減少させると共に、様々な岩石採取地点において岩石の年代測定を可能にする可搬型の年代測定装置を提供する。
効果 測定精度を大幅に向上させることができると共に装置を大幅に小型化して可搬型の装置を実現することができる。
また、誤差要因を取り除く事ができ、測定精度が飛躍的に向上する。更に、分光にトロイダル型凹面回折格子を用いることで部品点数を減らすことができる。
本発明の装置は、宇宙で使用された実績のある部品で構成され、小型軽量であるため、惑星着陸機に搭載できる可能性があり、試料を持ち帰ることなく現場で年代測定を行なうことが可能となるため、月惑星科学に対する大きな貢献が期待される。
技術概要
K−Ar年代測定装置1は、岩石試料2の表面にパルスレーザ光を集光させるパルスレーザ装置3と、試料2の表面から蒸発し励起した物質から発光された光4を分光するように配置されたトロイダル型凹面回折格子5と、トロイダル型凹面回折格子5の1次光6に含まれる波長107nmのAr輝線を真空紫外領域で検出するように配置された検出器8(マイクロチャンネルプレート(MCP)及びマルチアノードの組み合わせ)と、トロイダル型凹面回折格子5の0次光7に含まれる波長767nmのK輝線を検出するため配置されたバンドパスフィルタ9及びフォトダイオード10と、を備える。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

登録者名称 立教大学

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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