偏光解析システム

開放特許情報番号
L2014000007
開放特許情報登録日
2014/1/8
最新更新日
2015/12/22

基本情報

出願番号 特願2011-154241
出願日 2011/7/12
出願人 国立大学法人宇都宮大学
公開番号 特開2013-019812
公開日 2013/1/31
登録番号 特許第5827507号
特許権者 国立大学法人宇都宮大学
発明の名称 偏光解析システム
技術分野 情報・通信
機能 検査・検出
適用製品 偏光解析システム及びそれに用いる検出ユニット
目的 小型化及びそれに伴う低価格化を実現することが可能な光断層画像形成システム及びそれに用いる検出ユニットを提供する。
効果 直角となる光軸によって各偏光成分を出射させ、異なる場所に2つのラインセンサを別々に配設させることが必要な偏光ビームスプリッタを偏光用光学素子として用いる場合に比べて、部品点数を減少させることができるので、当該システム自体または当該検出ユニット自体を小型化することができるとともに、小型化に伴う低価格化をも実現することができる。
技術概要
光断層画像形成システム100は、光学偏光素子250を有し、物体反射光ビームと参照反射光ビームを干渉させた干渉偏光ビームを波長毎に分離しつつ、各波長毎の各偏光成分を検出する検出ユニット200を備えている。また、偏光用光学素子250は、分離された各波長の干渉偏光ビームが波長順に並列に入射されるとともに、所定の条件を具備する第1屈折率及び第2屈折率を有する複屈折の特性を有し、当該入射された各波長の干渉偏光ビームを透過しつつ偏光成分毎に分離して当該分離した各波長における各偏光成分を同一方向にそれぞれ異なる光軸によって出射するようになっている。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

登録者名称 宇都宮大学

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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