| 出願番号 |
特願2013-161373 |
| 出願日 |
2013/8/2 |
| 出願人 |
国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 公開番号 |
特開2015-031605 |
| 公開日 |
2015/2/16 |
| 登録番号 |
特許第6202307号 |
| 特許権者 |
国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 発明の名称 |
キラリティ測定方法及びキラリティ測定装置 |
| 技術分野 |
情報・通信 |
| 機能 |
材料・素材の製造、検査・検出 |
| 適用製品 |
キラリティ測定方法及びキラリティ測定装置 |
| 目的 |
液晶体を利用してガス状試料におけるキラリティを測定する方法、及び、かかる方法を用いた測定装置の提供。 |
| 効果 |
ガス状試料を安定して液晶体に供給できて、精度よく測定できるのである。
また、ガス状試料の光学純度や濃度、キラリティの有無や掌性について安価且つ簡便に測定できるのである。 |
技術概要
 |
ガス状試料におけるキラリティの測定方法であって、軸線に沿って分子配向させたネマチック液晶体にジグ‐ザグの一対からなる欠陥構造を与え、前記ネマチック液晶体に前記ガス状試料を導いて前記欠陥構造の変化を測定することを特徴とするキラリティ測定方法。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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