| 出願番号 |
特願2006-067553 |
| 出願日 |
2006/3/13 |
| 出願人 |
国立大学法人九州工業大学 |
| 公開番号 |
特開2007-248051 |
| 公開日 |
2007/9/27 |
| 登録番号 |
特許第4910128号 |
| 特許権者 |
国立大学法人九州工業大学 |
| 発明の名称 |
対象物表面の欠陥検査方法 |
| 技術分野 |
情報・通信、電気・電子 |
| 機能 |
機械・部品の製造、検査・検出、制御・ソフトウェア |
| 適用製品 |
対象物表面の欠陥検査方法 |
| 目的 |
入射角の異なる照射光を持つ照明手段によって照らした対象物の画像から，部品マークとマーク以外の領域，及び表面の欠陥部の領域の濃淡値に関する二次元的な分布から，欠陥部のみの領域を判別し，これによって部品マークの変動等の条件に影響されずに，半導体部品表面に対する欠陥の有無を判別できる対象物表面の欠陥検査方法を提供する。 |
| 効果 |
一つの照明手段による画像に比べ，半導体部品表面全体の欠陥の検出が容易に実現できる。また，この半導体部品表面全体の欠陥検査方法では，一般に使用される照明手段である同軸落射照明と斜光照明によって半導体部品の表面の欠陥を検出できる。また，欠陥が見え易い照明の波長を選ぶことによって，欠陥部の抽出が容易に検出でき、演算処理無しで高速に半導体部品である対象物の表面の欠陥を検出することができる。 |
技術概要
 |
この対象物表面の欠陥検査方法は，異なる照明手段によって照らされた対象物の画像から各種マークとマーク以外の領域，及び対象物表面の欠陥の領域の濃淡値に関する２次元的分布から，対象物表面の欠陥のみの領域を判別する。これによって各種マークの字体の変動等に影響されず，対象物表面の欠陥の有無を判定することができる。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【可】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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