半導体論理回路装置の故障診断方法及び故障診断プログラム

開放特許情報番号
L2013002007
開放特許情報登録日
2013/9/27
最新更新日
2013/9/27

基本情報

出願番号 特願2010-092911
出願日 2010/4/14
出願人 国立大学法人九州工業大学
公開番号 特開2010-217188
公開日 2010/9/30
登録番号 特許第4919237号
特許権者 国立大学法人九州工業大学
発明の名称 半導体論理回路装置の故障診断方法及び故障診断プログラム
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア
適用製品 半導体論理回路装置の故障診断方法及び故障診断プログラム
目的 効率性を保持しつつ精確性を高くした半導体論理回路装置の故障診断方法及び故障診断プログラムを提供する。
効果 ゲートのファンアウト信号線に出現可能な故障論理値を表す記号を挿入し、この状態でシミュレーション出力ベクトルを得ているので、複雑、動的及び多重の故障がシミュレーション出力ベクトルに反映され、この結果、誤診断を防止でき、従って、効率性を保持しつつ精確性を向上できる。また、故障候補ゲートに対して1つもしくは複数のシミュレーション出力ベクトルを得ているので、マッチング条件を緩和できる。
技術概要
半導体論理回路装置の回路情報において、X故障ゲートGiのファンアウト信号線に出現可能な故障論理値を表すX記号を挿入する。次に、テスト入力ベクトルVECを入力信号線に入力して初期シミュレーション出力ベクトルISOを出力信号線に得る。次に、X記号に2値論理シミュレーションを行ってX分解によるシミュレーション出力ベクトルを得る。次に、実際の半導体論理回路装置に対してテスト入力ベクトルVECを入力信号線に入力した際の観測出力ベクトルとシミュレーション出力ベクトルとの比較結果に応じて半導体論理回路装置の故障存在被疑領域を特定化する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【可】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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