超伝導体並びに超伝導体表面抵抗率の非接触測定方法及びその測定装置

開放特許情報番号
L2013001967
開放特許情報登録日
2013/9/27
最新更新日
2014/9/26

基本情報

出願番号 特願2008-232617
出願日 2008/9/10
出願人 国立大学法人九州工業大学
公開番号 特開2009-152175
公開日 2009/7/9
登録番号 特許第5574520号
特許権者 国立大学法人九州工業大学
発明の名称 超伝導体
技術分野 電気・電子、情報・通信
機能 検査・検出、材料・素材の製造、機械・部品の製造
適用製品 非接触測定方法及びその測定装置
目的 表面超伝導を用いた超伝導体、弾性表面波に伴って発生する交流電界を用いた高精度で容易かつ安価な超伝導体表面抵抗率の非接触測定方法及びその測定装置を提供する。
効果 積層体の各超伝導体薄膜の上、下表層に表面超伝導層を形成することができ、積層体中に占める表面超伝導層の割合を高くできると共に、高温で超伝導状態を発現させることができる。
超伝導体の温度を変化させながら超伝導体表面抵抗率を測定することで、超伝導体表面抵抗率の温度特性を求めることができる。
簡単な構成で測定装置を作製でき、装置コストの低減、装置の小型化、及び測定コストの低減が可能になる。
技術概要
両側に入、出力電極対11、12をそれぞれ備えた平板状の圧電体13に隙間48を設けて超伝導体14を配置し、入力電極対11に印加した入力電圧により発生した弾性表面波を出力電極対12に向けて移動させながら弾性表面波に伴う交流電界を超伝導体14に印加して、出力電極対12で検出した出力電圧値と入力電圧中の弾性表面波の周波数に対応する入力電圧成分値との比の値から求める超伝導体表面抵抗率の非接触測定方法であって、入力電圧をパルス電圧とし、出力電圧値及び入力電圧成分値を出力電極対12で測定された出力電圧及び入力電圧の各高速フーリエ変換から求め、弾性表面波の周波数を交流電界が超伝導体14の表面で反射され内部に侵入しない範囲に設定する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【可】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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