テラヘルツ測定法

開放特許情報番号
L2013001549
開放特許情報登録日
2013/8/2
最新更新日
2017/3/22

基本情報

出願番号 特願2012-287642
出願日 2012/12/28
出願人 独立行政法人日本原子力研究開発機構
公開番号 特開2013-057696
公開日 2013/3/28
登録番号 特許第5510851号
特許権者 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構
発明の名称 テラヘルツ測定法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア
適用製品 テラヘルツ測定装置
目的 測定周波数帯域の広帯域化と周波数分解能の高分解能化とを実現したテラヘルツ測定装置等を提供する。
効果 測定周波数帯域の広帯域化と周波数分解能の高分解能化とを実現し、信頼性の高いテラヘルツ測定装置等を提供できる。
技術概要
THz波スペクトル測定装置(1)は、フェムト秒レーザーをポンプ光とプローブ光とに分岐するビームスプリッタ(11)と、ポンプ光を受けてTHz波を発生させるTHz波発生源(12)と、プローブ光をチャープパルスに変換するチャープ発生光学器(22)と、チャープパルスを2つに分岐するビームスプリッタ(31)と、分岐された一方の参照光を検出する参照光検出手段と、他方をTHz波の電気光学効果にて変調する電気光学結晶(43)と、電気光学結晶(43)から出力された信号光を検出する信号光検出手段と、同時に検出された参照光と信号光とに基づいてTHz波の時間波形を取得する演算回路(50)とを有する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【有】
国外 【無】   
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