半導体レーザの高周波重畳動作検査装置

開放特許情報番号
L2013001223
開放特許情報登録日
2013/6/20
最新更新日
2013/6/20

基本情報

出願番号 特願2001-165716
出願日 2001/5/31
出願人 株式会社ミツトヨ
公開番号 特開2002-359424
公開日 2002/12/13
登録番号 特許第4713769号
特許権者 株式会社ミツトヨ
発明の名称 半導体レーザの高周波重畳動作検査装置
技術分野 電気・電子、情報・通信
機能 機械・部品の製造、検査・検出
適用製品 半導体レーザの高周波重畳動作検査装置
目的 操作や調整を簡単化すると共に、検査時間を短縮する。
効果 操作や調整が簡単化され、検査時間を短縮することができる。又、小型化、軽量化、携帯化が可能である。更に、低価格化、低消費電力化(受動部品だけの構成であれば、電力は零であり、電装部品を追加しても、低消費電力化は容易)が可能である。又、構成の簡素化及び製作の容易化が可能である。更に、耐環境性も向上する。
技術概要
半導体レーザの偏光状態を動的に変化可能な光学素子と、該光学素子からの出射光が入射される複屈折光ファイバと、該複屈折光ファイバからの出射光が入射される、透過軸が前記複屈折光ファイバの主軸に対して45°回転された偏光子とを備え、
前記複屈折光ファイバで生じる直交偏波モード間の光路差が、高周波重畳動作時の半導体レーザ光のコヒーレンス長より長く、且つ、高周波重畳動作をしていない時の半導体レーザ光のコヒーレンス長より短くなるように設定して、前記光学素子により半導体レーザ光の偏光状態を変化させた時の前記偏光子の光出力の変化から、高周波重畳動作の有無を検査することを特徴とする半導体レーザの高周波重畳動作検査装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】
実施権条件 <1>競合他社(製品)へのライセンスは原則行わない。
<2>技術指導は原則行わない。

登録者情報

登録者名称 株式会社ミツトヨ

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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