変位・ひずみ分布計測光学系と計測手法

開放特許情報番号
L2013000888
開放特許情報登録日
2013/5/27
最新更新日
2015/12/22

基本情報

出願番号 特願2011-086797
出願日 2011/4/8
出願人 国立大学法人 和歌山大学
公開番号 特開2012-220349
公開日 2012/11/12
登録番号 特許第5825622号
特許権者 国立大学法人 和歌山大学
発明の名称 変位・ひずみ分布計測光学系と計測手法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造、検査・検出
適用製品 光学系とその計測手法
目的 安価で小型の変位・ひずみ分布計測光学系と計測手段を提供する。
効果 光学素子の数を減らし、2次元の変位・ひずみ分布計測を行うことができる装置を小型にすることができる。さらに、計測対象物の近傍に鏡を設置することにより、撮像素子の数を減らし、さらに小型の装置とすることができる。
技術概要
複数の撮像素子を用いたデジタルホログラフィを用いた光学系であって、
1つのレーザー光源を、物体に照射する物体光と、前記複数の撮像素子へ照射する参照光に分離するための手段と、
計測対象物を置く場所に、特定のパターンを持つ基準面を解析領域に設置する手段、
とを備える変位・ひずみ分布計測光学系。
実施実績 【無】   
許諾実績 【有】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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