テストデータ生成装置

開放特許情報番号
L2013000801
開放特許情報登録日
2013/5/17
最新更新日
2017/1/25

基本情報

出願番号 特願2013-027744
出願日 2013/2/15
出願人 国立研究開発法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2014-157473
公開日 2014/8/28
登録番号 特許第6037307号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 テストデータ生成装置
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア
適用製品 テストデータを生成する装置
目的 定められた論理構造にてパラメータを表現しなくとも、テストデータ生成ツールを使用することを可能とする。
効果 端末装置において、プログラムを用意しなくとも、テストデータを得ることができる。
また、平坦化されたパラメータデータを端末装置に送信するようにしてもよい。この場合、ユーザは、端末装置側のPICTなどのツールにこれを入力し、テストデータを得ることができる。
また、オールペア法などに基づくテストデータ生成プログラム(たとえば、マイクロソフト社のPICT)などを用いることができる。
技術概要
アンド・アンド階層平坦化手段4は、入力されたパラメータデータ20の論理構造中において、対象ノードから、AND関係とAND関係が階層として連続している部分を見いだし、条件を付け替えるとともに、対象子ノードTaを削除する。オア・オア階層平坦化手段6は、アンド・アンド階層平坦化パラメータデータ22の論理構造中において、対象ノードから、OR関係とOR関係が階層として連続している部分を見いだし、条件を付け替えるとともに、対象子ノードISRを削除する。持上平坦化手段8は、対象ノードTaからAND関係とOR関係が下位階層として連続し、さらに、対象ノードからOR関係とAND関係が上位階層として連続している部分34を見いだし、条件を付け替えるとともに、平坦化を行う。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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