出願番号 |
特願2013-027744 |
出願日 |
2013/2/15 |
出願人 |
国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
公開番号 |
特開2014-157473 |
公開日 |
2014/8/28 |
登録番号 |
特許第6037307号 |
特許権者 |
国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
発明の名称 |
テストデータ生成装置 |
技術分野 |
情報・通信 |
機能 |
機械・部品の製造、制御・ソフトウェア |
適用製品 |
テストデータを生成する装置 |
目的 |
定められた論理構造にてパラメータを表現しなくとも、テストデータ生成ツールを使用することを可能とする。 |
効果 |
端末装置において、プログラムを用意しなくとも、テストデータを得ることができる。
また、平坦化されたパラメータデータを端末装置に送信するようにしてもよい。この場合、ユーザは、端末装置側のPICTなどのツールにこれを入力し、テストデータを得ることができる。
また、オールペア法などに基づくテストデータ生成プログラム(たとえば、マイクロソフト社のPICT)などを用いることができる。 |
技術概要
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アンド・アンド階層平坦化手段4は、入力されたパラメータデータ20の論理構造中において、対象ノードから、AND関係とAND関係が階層として連続している部分を見いだし、条件を付け替えるとともに、対象子ノードTaを削除する。オア・オア階層平坦化手段6は、アンド・アンド階層平坦化パラメータデータ22の論理構造中において、対象ノードから、OR関係とOR関係が階層として連続している部分を見いだし、条件を付け替えるとともに、対象子ノードISRを削除する。持上平坦化手段8は、対象ノードTaからAND関係とOR関係が下位階層として連続し、さらに、対象ノードからOR関係とAND関係が上位階層として連続している部分34を見いだし、条件を付け替えるとともに、平坦化を行う。 |
実施実績 |
【無】 |
許諾実績 |
【無】 |
特許権譲渡 |
【否】
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特許権実施許諾 |
【可】
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