| 出願番号 |
特願2013-027744 |
| 出願日 |
2013/2/15 |
| 出願人 |
国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 公開番号 |
特開2014-157473 |
| 公開日 |
2014/8/28 |
| 登録番号 |
特許第6037307号 |
| 特許権者 |
国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 発明の名称 |
テストデータ生成装置 |
| 技術分野 |
情報・通信 |
| 機能 |
機械・部品の製造、制御・ソフトウェア |
| 適用製品 |
テストデータを生成する装置 |
| 目的 |
定められた論理構造にてパラメータを表現しなくとも、テストデータ生成ツールを使用することを可能とする。 |
| 効果 |
端末装置において、プログラムを用意しなくとも、テストデータを得ることができる。
また、平坦化されたパラメータデータを端末装置に送信するようにしてもよい。この場合、ユーザは、端末装置側のＰＩＣＴなどのツールにこれを入力し、テストデータを得ることができる。
また、オールペア法などに基づくテストデータ生成プログラム（たとえば、マイクロソフト社のＰＩＣＴ）などを用いることができる。 |
技術概要
 |
アンド・アンド階層平坦化手段４は、入力されたパラメータデータ２０の論理構造中において、対象ノードから、ＡＮＤ関係とＡＮＤ関係が階層として連続している部分を見いだし、条件を付け替えるとともに、対象子ノードＴaを削除する。オア・オア階層平坦化手段６は、アンド・アンド階層平坦化パラメータデータ２２の論理構造中において、対象ノードから、ＯＲ関係とＯＲ関係が階層として連続している部分を見いだし、条件を付け替えるとともに、対象子ノードＩＳＲを削除する。持上平坦化手段８は、対象ノードＴａからＡＮＤ関係とＯＲ関係が下位階層として連続し、さらに、対象ノードからＯＲ関係とＡＮＤ関係が上位階層として連続している部分３４を見いだし、条件を付け替えるとともに、平坦化を行う。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
)