分析用基板及びその製造方法

開放特許情報番号
L2013000675
開放特許情報登録日
2013/4/26
最新更新日
2017/3/30

基本情報

出願番号 特願2010-074787
出願日 2010/3/29
出願人 学校法人 東洋大学
公開番号 特開2011-208993
公開日 2011/10/20
登録番号 特許第5494954号
特許権者 学校法人 東洋大学
発明の名称 分析用基板及びその製造方法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア
適用製品 分析用基板及びその製造方法
目的 手間やコストをかけずに、微量のサンプル、もしくは二次元情報を含む組織切片等の同一サンプルを、複数の分析方法で高感度に分析することができる分析用基板及びその製造方法を提供する。
効果 微量又は唯一無二のサンプルを複数の異なる分析方法により分析することが可能となる。例えば、がん治療における腫瘍部位の診断において、摘出切片中の標的バイオマーカーと化学分析を同時に行うことができれば、より的確な判定が可能になる。
また、腫瘍切片のように、二次元マッピングが必要な場合においては、測定対象が微量でも貴重でもない場合においても、分析手法毎に試料を準備する必要がなくなり、測定の手間を省くことができる。さらに品質管理のような応用においては、分析のスループット向上につながり、全量検査も可能となる。
技術概要
光学的に平坦な基板1の上に、金属付着微粒子10が、一様に形成されている。金属付着微粒子10は、微粒子2と微粒子2に付着した金属層3とで構成されている。基板1上に微粒子2が固相化されており、微粒子2の表面の一部が金属層3で被覆されている。基板1上の領域によって、金属層3の組成、厚さ、微粒子2の粒径が異なるように構成される。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【可】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

登録者名称 学校法人東洋大学

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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