| 出願番号 |
特願2012-267612 |
| 出願日 |
2012/12/6 |
| 出願人 |
国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 公開番号 |
特開2014-115116 |
| 公開日 |
2014/6/26 |
| 登録番号 |
特許第5946095号 |
| 特許権者 |
国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 発明の名称 |
コンピュータ断層撮影を用いた分析方法 |
| 技術分野 |
情報・通信 |
| 機能 |
制御・ソフトウェア、検査・検出 |
| 適用製品 |
コンピュータ断層撮影を用いた分析方法 |
| 目的 |
医療・生物分野や貨物セキュリティや産業廃棄物等の分野で、元素や濃度が未知の試料に対して、Ｘ線コンピュータ断層画像を撮影することにより、試料中の重元素の原子番号と濃度を定量できる方法を提供する。 |
| 効果 |
本発明を、医療用Ｘ線ＣＴ装置や産業用Ｘ線ＣＴ装置に実装すれば、貨物セキュリティ、産業廃棄物管理などの、危険物取り扱い現場で使えるので、産業上有用である。また、本発明で同定できる元素、例えばキセノン、ヨウ素、ガドリニウム等の重元素は医療でも使うので、人体やマウスを対象にした医療・生物関係にも有用である。 |
技術概要
 |
多色性線Ｘ線源を用いた単一エネルギーＸ線コンピュータ断層撮影装置で試料の実測Ｘ線コンピュータ断層画像を取得し、
複数の元素の複数の濃度を想定したＸ線コンピュータ断層画像生成の計算機シミュレーションを実施して、得られた線質硬化の定量解析結果が、前記試料の前記実測Ｘ線コンピュータ断層画像の線質硬化の定量解析結果と、類似する元素を、試料の元素であると特定することを特徴とする分析方法。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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