コンピュータ断層撮影を用いた分析方法

開放特許情報番号
L2013000651
開放特許情報登録日
2013/4/19
最新更新日
2016/7/27

基本情報

出願番号 特願2012-267612
出願日 2012/12/6
出願人 国立研究開発法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2014-115116
公開日 2014/6/26
登録番号 特許第5946095号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 コンピュータ断層撮影を用いた分析方法
技術分野 情報・通信
機能 制御・ソフトウェア、検査・検出
適用製品 コンピュータ断層撮影を用いた分析方法
目的 医療・生物分野や貨物セキュリティや産業廃棄物等の分野で、元素や濃度が未知の試料に対して、X線コンピュータ断層画像を撮影することにより、試料中の重元素の原子番号と濃度を定量できる方法を提供する。
効果 本発明を、医療用X線CT装置や産業用X線CT装置に実装すれば、貨物セキュリティ、産業廃棄物管理などの、危険物取り扱い現場で使えるので、産業上有用である。また、本発明で同定できる元素、例えばキセノン、ヨウ素、ガドリニウム等の重元素は医療でも使うので、人体やマウスを対象にした医療・生物関係にも有用である。
技術概要
多色性線X線源を用いた単一エネルギーX線コンピュータ断層撮影装置で試料の実測X線コンピュータ断層画像を取得し、
複数の元素の複数の濃度を想定したX線コンピュータ断層画像生成の計算機シミュレーションを実施して、得られた線質硬化の定量解析結果が、前記試料の前記実測X線コンピュータ断層画像の線質硬化の定量解析結果と、類似する元素を、試料の元素であると特定することを特徴とする分析方法。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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