校正機能を備えた反射率及び反射濃度の計測方法及びそれを実施するシステム

開放特許情報番号
L2013000464
開放特許情報登録日
2013/3/22
最新更新日
2015/10/30

基本情報

出願番号 特願2010-104781
出願日 2010/4/30
出願人 独立行政法人 宇宙航空研究開発機構
公開番号 特開2011-232268
公開日 2011/11/17
登録番号 特許第5540354号
特許権者 国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構
発明の名称 校正機能を備えた反射率及び反射濃度の計測方法及びそれを実施するシステム
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア
適用製品 連続して反射率、反射濃度を計測する反射率計、反射濃度計における反射率校正
目的 フィードバック制御による照射出力の安定化を行わずに短時間で計測の高精度化を図り、照射出力の安定化によるコ-ストアップと計測装置の大型化をもたらすことのない反射率計、反射濃度計の反射率校正方法を提示する。
効果 計測時の校正作業が簡便でありながら、従来の2つの校正用反射率基準板を用いた高精度な校正に等しい精度を担保する機能を備えた測定器を提供出来る。
被測定物の反射光量センサ出力Sの測定前又は後に常用反射率基準板を測定してa,b値を求めその値と被測定物の反射光量センサ出力Sから反射率Rを算出することにより、手操作による校正操作が不要となり、且つ校正から測定までの時間が短いので光量及び環境変化が少ないので精度の高い測定が可能である。
技術概要
本発明の校正機能を備えた反射率及び反射濃度を計測する方法は、反射率が既知の2種類の校正用反射率基準板を用い、予めそれぞれについての照射光量に対応する反射光量センサ出力との特性を測定し、その関係式と変動因子との関係を把握してその特性をメモリに記憶しておき、校正時にはその際の照射光量を検出し、その値と記憶した因果関係から2種類の校正用反射率基準板に基づく校正時の正確関係式を確立し、次に被測定物の反射光量センサ出力値Sを測定し、反射率及び反射濃度を算出する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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