サブミリ波反射損失の測定方法及び測定装置

開放特許情報番号
L2013000463
開放特許情報登録日
2013/3/22
最新更新日
2015/10/30

基本情報

出願番号 特願2010-224939
出願日 2010/10/4
出願人 独立行政法人 宇宙航空研究開発機構
公開番号 特開2012-078249
公開日 2012/4/19
登録番号 特許第5540357号
特許権者 国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構
発明の名称 サブミリ波反射損失の測定方法及び測定装置
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア
適用製品 サブミリ波の反射損失を測定するための、装置及び方法
目的 金属材料サンプルのサブミリ波反射特性(反射損失、反射率)を高精度に測定するための装置、及び方法を提供する。
効果 金属材料のサブミリ波反射特性を高精度で決定することが可能となる。測定において反射損失が既知であるような参照用サンプルを用いる必要はなく、反射損失は典型的に、環境温度、2つの熱放射体それぞれの温度、及び、参照経路と測定対象経路のそれぞれについて決定される、受信機からの出力電力の比(高温側熱放射体から発生した放射光に含まれるサブミリ波を受信した受信機からの出力電力と、低温側熱放射体から発生した放射光に含まれるサブミリ波を受信した受信機からの出力電力との比)を用いて算出される。
技術概要
本発明は、温度の異なる2つの熱放射体それぞれから発生する放射光について、当該放射光が参照経路を進行した場合と金属材料サンプルによる反射を伴って測定対象経路を進行した場合とで異なるサブミリ波の強度を測定し、当該測定結果を用いてサンプルの反射特性を算出するための装置、及び方法を提供する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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