超伝導電流計

開放特許情報番号

L2013000170

開放特許情報登録日

2013/1/25

最新更新日

2015/11/2

基本情報

出願番号	特願2012-235758
出願日	2012/10/25
出願人	国立研究開発法人産業技術総合研究所
公開番号	特開2014-085276
公開日	2014/5/12
発明の名称	超伝導電流計
技術分野	情報・通信
機能	機械・部品の製造、検査・検出
適用製品	超伝導電流計
目的	ＦＬＬにおける帰還ループを用いずに異なる磁束バイアスをかけた複数のＳＱＵＩＤ出力を同時に取得・処理することで、被測定電流をその値によらず高感度に計測する。
効果	超伝導量子干渉素子が持つ応答速度の上限まで信号帯域を広げた高速の電流測定ができ、また、多チャンネル電流計を構成したときに、出力の多重化を容易に行うことができる。 さらに、Ｘ線検出用のＴＥＳを用いた半導体検出器と同等の有効検出面積をもつ高分解能で高速の分析装置を実現でき、放射性物質を化学的な処理によらずに定量分析できる装置などこれまでにない分析装置を実現できることが期待される。
技術概要	同一の被測定電流が供給される第１の入力コイル及び第２の入力コイルと、 前記第１の入力コイルに第１の相互インダクタンスで結合された第１の超伝導量子干渉素子と、 前記第２の入力コイルに前記第１の相互インダクタンスで結合された第２の超伝導量子干渉素子と、 前記第２の超伝導量子干渉素子に第２の相互インダクタンスで結合された磁束バイアスコイルと、 前記磁束バイアスコイルに一定のバイアス電流を供給して、前記第１の超伝導量子干渉素子の出力に対して前記第２の超伝導量子干渉素子の出力に磁束オフセットを持たせるバイアス電流源と、 前記第１の超伝導量子干渉素子の出力の鎖交磁束／磁束量子で表される推定値に含まれる第１の雑音と、前記第２の超伝導量子干渉素子の出力の鎖交磁束／磁束量子で表される推定値に含まれる第２の雑音とのうち、雑音の少ない方の推定値を選択し、これを測定電流値として出力する信号処理手段と、 を備えることを特徴とする超伝導電流計。
実施実績	【無】
許諾実績	【無】
特許権譲渡	【否】
特許権実施許諾	【可】

登録者情報

登録者名称	国立研究開発法人産業技術総合研究所

その他の情報

関連特許	国内 【無】 国外 【無】