高圧発生装置及び磁化測定装置

開放特許情報番号
L2013000084
開放特許情報登録日
2013/1/17
最新更新日
2016/10/7

基本情報

出願番号 特願2011-054153
出願日 2011/3/11
出願人 国立研究開発法人日本原子力研究開発機構
公開番号 特開2012-187612
公開日 2012/10/4
発明の名称 高圧発生装置及び磁化測定装置
技術分野 機械・加工、情報・通信
機能 検査・検出、機械・部品の製造
適用製品 高圧発生装置、磁化測定装置
目的 SQUID磁束計で用いられる1.5GPa以上の超高圧が発生可能で磁化の小さな物質の磁化測定も可能で高圧発生空間が比較的大きく廉価な高圧発生装置及び磁化測定装置を提供する。
効果 SQUID磁束計で用いられる1.5GPa以上の超高圧が発生可能で磁化の小さな物質の磁化測定も可能で高圧発生空間が比較的大きく廉価な高圧発生装置及び磁化測定装置を提供することができる。
SQUID磁束計を用いた高圧力下での磁化測定において利用される。
技術概要
高圧発生装置10は、両端部にボルト部11が形成されたシリンダー12と、シリンダー内に設けられた一対のアンビル13と、一対のアンビルの間に高圧発生空間を形成するために設けられたガスケット15と、一対のアンビルの両端から押さえるピストン16と、ピストンを介して一対のアンビルを加圧する加圧棒17と、加圧棒で加圧した後に一対のアンビルを加圧した状態でピストンを固定するためにボルト部でねじ締めするクランプナット18と、を備え、シリンダー12とアンビル13とガスケット15とピストン16とクランプナット18は、非磁性物質により形成されている。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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