複数マッハツェンダー干渉計を有する光変調器の特性評価方法

開放特許情報番号
L2012002773
開放特許情報登録日
2012/9/27
最新更新日
2015/10/22

基本情報

出願番号 特願2012-085290
出願日 2012/4/4
出願人 独立行政法人情報通信研究機構
公開番号 特開2012-168185
公開日 2012/9/6
登録番号 特許第5640195号
特許権者 国立研究開発法人情報通信研究機構
発明の名称 複数マッハツェンダー干渉計を有する光変調器の特性評価方法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造、その他
適用製品 複数のマッハツェンダー干渉計を有する光変調器の特性評価方法
目的 複数のMZ干渉計を含む光変調器における個々のMZ干渉計の特性を評価する方法を提供する。
効果 精度良く光変調器の特性を評価する方法を提供できる。
複数のMZ干渉計を含む光変調器における個々のMZ干渉計の特性を評価する方法を提供することができる。
光情報通信の分野において好適に利用されうる。
技術概要
光変調器1は、第1のMZ干渉計2と第2のMZ干渉計3を含み第1のMZ干渉計2は分波部5と、2つのアーム6,7と合波部8と電極を含む。2つのアームは分波部と接続され、合波部は2つのアームと接続され、電極は2つのアームにバイアス電圧を印加でき、電極は2つのアームに変調信号を印加でき、MZ干渉計に駆動信号を印加し、MZ干渉計の2つのアームから出力される光の位相差をπかあるいは0となるようにバイアス電圧を調整し、バイアス電圧が調整された後MZ干渉計の出力強度のうち2次成分のサイドバンド成分の強度を用いてMZ干渉計の特性を評価する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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