複数マッハツェンダー干渉計を有する光変調器の特性評価方法

開放特許情報番号

L2012002773

開放特許情報登録日

2012/9/27

最新更新日

2023/1/16

基本情報

出願番号	特願2012-085290
出願日	2012/4/4
出願人	独立行政法人情報通信研究機構
公開番号	特開2012-168185
公開日	2012/9/6
登録番号	特許第5640195号
特許権者	国立研究開発法人情報通信研究機構
発明の名称	複数マッハツェンダー干渉計を有する光変調器の特性評価方法
技術分野	情報・通信
機能	機械・部品の製造、その他
適用製品	複数のマッハツェンダー干渉計を有する光変調器の特性評価方法
目的	複数のＭＺ干渉計を含む光変調器における個々のＭＺ干渉計の特性を評価する方法を提供する。
効果	精度良く光変調器の特性を評価する方法を提供できる。 複数のＭＺ干渉計を含む光変調器における個々のＭＺ干渉計の特性を評価する方法を提供することができる。 光情報通信の分野において好適に利用されうる。
技術概要	光変調器１は、第１のＭＺ干渉計２と第２のＭＺ干渉計３を含み第１のＭＺ干渉計２は分波部５と、２つのアーム６，７と合波部８と電極を含む。２つのアームは分波部と接続され、合波部は２つのアームと接続され、電極は２つのアームにバイアス電圧を印加でき、電極は２つのアームに変調信号を印加でき、ＭＺ干渉計に駆動信号を印加し、ＭＺ干渉計の２つのアームから出力される光の位相差をπかあるいは０となるようにバイアス電圧を調整し、バイアス電圧が調整された後ＭＺ干渉計の出力強度のうち２次成分のサイドバンド成分の強度を用いてＭＺ干渉計の特性を評価する。
実施実績	【無】
許諾実績	【無】
特許権譲渡	【否】
特許権実施許諾	【可】

アピール情報

アピール内容	国立研究開発法人情報通信研究機構(NICT)では、みなさまに ご活用いただきたい成果(シーズ)を、以下に公開しています。 製品化や技術移転など、お気軽にご相談ください。 https://www2.nict.go.jp/oihq/seeds/

登録者情報

登録者名称	国立研究開発法人情報通信研究機構

その他の情報

関連特許	国内 【無】 国外 【無】