出願番号 |
特願2012-085290 |
出願日 |
2012/4/4 |
出願人 |
独立行政法人情報通信研究機構 |
公開番号 |
特開2012-168185 |
公開日 |
2012/9/6 |
登録番号 |
特許第5640195号 |
特許権者 |
国立研究開発法人情報通信研究機構 |
発明の名称 |
複数マッハツェンダー干渉計を有する光変調器の特性評価方法 |
技術分野 |
情報・通信 |
機能 |
機械・部品の製造、その他 |
適用製品 |
複数のマッハツェンダー干渉計を有する光変調器の特性評価方法 |
目的 |
複数のMZ干渉計を含む光変調器における個々のMZ干渉計の特性を評価する方法を提供する。 |
効果 |
精度良く光変調器の特性を評価する方法を提供できる。
複数のMZ干渉計を含む光変調器における個々のMZ干渉計の特性を評価する方法を提供することができる。
光情報通信の分野において好適に利用されうる。 |
技術概要
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光変調器1は、第1のMZ干渉計2と第2のMZ干渉計3を含み第1のMZ干渉計2は分波部5と、2つのアーム6,7と合波部8と電極を含む。2つのアームは分波部と接続され、合波部は2つのアームと接続され、電極は2つのアームにバイアス電圧を印加でき、電極は2つのアームに変調信号を印加でき、MZ干渉計に駆動信号を印加し、MZ干渉計の2つのアームから出力される光の位相差をπかあるいは0となるようにバイアス電圧を調整し、バイアス電圧が調整された後MZ干渉計の出力強度のうち2次成分のサイドバンド成分の強度を用いてMZ干渉計の特性を評価する。 |
実施実績 |
【無】 |
許諾実績 |
【無】 |
特許権譲渡 |
【否】
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特許権実施許諾 |
【可】
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