| 出願番号 |
特願2012-085290 |
| 出願日 |
2012/4/4 |
| 出願人 |
独立行政法人情報通信研究機構 |
| 公開番号 |
特開2012-168185 |
| 公開日 |
2012/9/6 |
| 登録番号 |
特許第5640195号 |
| 特許権者 |
国立研究開発法人情報通信研究機構 |
| 発明の名称 |
複数マッハツェンダー干渉計を有する光変調器の特性評価方法 |
| 技術分野 |
情報・通信 |
| 機能 |
機械・部品の製造、その他 |
| 適用製品 |
複数のマッハツェンダー干渉計を有する光変調器の特性評価方法 |
| 目的 |
複数のＭＺ干渉計を含む光変調器における個々のＭＺ干渉計の特性を評価する方法を提供する。 |
| 効果 |
精度良く光変調器の特性を評価する方法を提供できる。
複数のＭＺ干渉計を含む光変調器における個々のＭＺ干渉計の特性を評価する方法を提供することができる。
光情報通信の分野において好適に利用されうる。 |
技術概要
 |
光変調器１は、第１のＭＺ干渉計２と第２のＭＺ干渉計３を含み第１のＭＺ干渉計２は分波部５と、２つのアーム６，７と合波部８と電極を含む。２つのアームは分波部と接続され、合波部は２つのアームと接続され、電極は２つのアームにバイアス電圧を印加でき、電極は２つのアームに変調信号を印加でき、ＭＺ干渉計に駆動信号を印加し、ＭＺ干渉計の２つのアームから出力される光の位相差をπかあるいは０となるようにバイアス電圧を調整し、バイアス電圧が調整された後ＭＺ干渉計の出力強度のうち２次成分のサイドバンド成分の強度を用いてＭＺ干渉計の特性を評価する。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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