インプロセス計測機能付き加工装置および光計測方法

開放特許情報番号
L2012002601
開放特許情報登録日
2012/9/14
最新更新日
2012/9/14

基本情報

出願番号 特願平10-091085
出願日 1998/4/3
出願人 株式会社ミツトヨ
公開番号 特開平11-287611
公開日 1999/10/19
登録番号 特許第4056617号
特許権者 株式会社ミツトヨ
発明の名称 インプロセス計測機能付き加工装置および光計測方法
技術分野 機械・加工、情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 計測機能付き加工装置および光計測方法
目的 加工中でもワークの表面の光測定ができるようにする。
効果 加工途中でワークを加工装置から取り外して測定器にセットするといった段取り替え作業が不要となり、加工時間や加工コストを低減することが可能となる。
加工中に加工条件の良否や加工精度の判断を容易に行うことができ、加工精度を向上することが可能となり、また、不良加工発生を未然に防止することが可能となる。
ワーククランプにより発生する歪みを観察することができる。
技術概要
ワークを保持する保持手段と、前記ワークを加工する加工手段と、前記ワークに対して加工液を供給する加工液供給手段と、前記ワークの表面の光照射部位に光を照射することにより干渉縞の画像を取得して光計測を行う計測手段と、前記光照射部位の上にワーク表面に沿った一定方向の高速気体流を発生させ、この高速気体流によって前記干渉縞に揺らぎが生じる、気体流発生手段と、前記揺らいでいる干渉縞の、前記計測手段がとらえた画像を複数取得し、これらを平均化する画像処理手段と、平均化された干渉縞画像に基づき、ワーク表面性状の判定を行う判定手段と、を含み、前記高速気体流により光計測対象部位の加工液を排除して加工中の光計測を可能にすることを特徴とするインプロセス計測機能付き加工装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】
実施権条件 <1>競合他社(製品)へのライセンスは原則行わない。
<2>技術指導は原則行わない。

登録者情報

登録者名称 株式会社ミツトヨ

その他の情報

関連特許
国内 【有】
国外 【有】   
Copyright © 2017 INPIT