変調光解析装置とその変調光解析装置を用いた電界あるいは磁界測定プローブ装置

開放特許情報番号
L2012002084
開放特許情報登録日
2012/7/24
最新更新日
2015/10/22

基本情報

出願番号 特願2010-253919
出願日 2010/11/12
出願人 独立行政法人情報通信研究機構
公開番号 特開2012-103200
公開日 2012/5/31
登録番号 特許第5645011号
特許権者 国立研究開発法人情報通信研究機構
発明の名称 変調光解析装置とその変調光解析装置を用いた電界あるいは磁界測定プローブ装置
技術分野 情報・通信
機能 検査・検出、機械・部品の製造
適用製品 信号の解析技術、変調光解析装置、電界あるいは磁界検出プローブ装置
目的 伝送路での位相差変動を抽出する変調光解析装置と、それを用いて、プローブ部の揺動の影響を差し引ける電界磁界測定用光学プローブとを実現する。
効果 光路の偏波面ごとの屈折率変動によって生ずる信号の変動を受動的に補償し受信信号の安定化を行うことができる。また、測定端子と変調光解析装置をPMFを用いて光を伝送した場合に発生するPMFの揺動などによる測定の劣化を保障することができる。更にヘテロダイン法を用いた上記の電界あるいは磁界測定プローブ装置においては、変更解析装置は信号の検出と処理を行う機能を一定の周波数に限定することができ、測定の安定化に更に貢献する。
レーザレーダにおける解析法などにも応用できる。
技術概要
解析対象の楕円偏光を入射し、これを第1、2の偏光に分岐し、第1の偏光を入射し、第1の偏光分岐手段でその搬送波と側帯波にπ/4で交叉する偏光成分に分離し、第1、2の光電変換手段で強度を測定する。第2の偏光を1/4波長板に通した後、搬送波と側帯波に対してπ/4で交叉する偏光成分に分離し、この強度を第3、4の光電変換手段で測定し、第1から第4の光電変換手段の出力を入力して、入射光の搬送波と側帯波の強度や位相を算出する。解析する周波数は信号発生器の周波数で指定する。信号処理回路は、第1、2(第3、4)の光電変換手段の各々の出力間の差の第1(第2)の差信号について強度の比から、解析対象の入射光の搬送波と側帯波の位相差を算出する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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