3次元形状測定方法

開放特許情報番号
L2012001865
開放特許情報登録日
2012/7/3
最新更新日
2012/7/3

基本情報

出願番号 特願2006-355783
出願日 2006/12/28
出願人 パルステック工業株式会社
公開番号 特開2008-164493
公開日 2008/7/17
登録番号 特許第4863006号
特許権者 パルステック工業株式会社
発明の名称 3次元形状測定方法
技術分野 電気・電子
機能 検査・検出
適用製品 形状測定装置
目的 測定カメラを長尺状の測定対象物(例えば人体)に対して長軸方向に移動させて測定対象物の3次元形状を測定する場合において、測定精度のよい形状測定を行うことができる技術を提供する。
効果 測定カメラを測定対象物(例えば人体)の長軸方向に移動させる際、測定カメラの座標軸が多少変動しても高精度で測定対象物の形状を測定することができる
技術概要
 
校正用物体を長軸方向に沿って複数に区分し、各領域に少なくとも2つの基準平面と1つの基準点を定義可能な形状を設ける。この校正用物体を形状測定し座標データを処理して、区分された領域ごとに座標変換関数を求める。そして、測定対象物を測定して得られた座標データを、領域ごとに得られた座標変換関数を用いて座標変換する
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】
実施権条件 相手との交渉による

アピール情報

導入メリット 【改善】
改善効果1 測定カメラを測定対象物の長軸方向に移動させて形状測定する際、移動を精密に行わなくても高精度の形状データが得られる

登録者情報

その他の情報

その他の提供特許
登録番号1 4910754
関連特許
国内 【有】
国外 【無】   
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