三次元形状測定方法、三次元形状測定装置および校正用物体

開放特許情報番号
L2012001864
開放特許情報登録日
2012/7/3
最新更新日
2012/7/3

基本情報

出願番号 特願2006-204215
出願日 2006/7/27
出願人 パルステック工業株式会社
公開番号 特開2008-032449
公開日 2008/2/14
登録番号 特許第4682947号
特許権者 パルステック工業株式会社
発明の名称 三次元形状測定方法、三次元形状測定装置および校正用物体
技術分野 電気・電子
機能 検査・検出
適用製品 形状測定装置
目的 測定対象物を回転させながらライン光を測定対象物に照射して形状を測定する際、カメラ座標系の座標軸と測定対象物の回転軸との平行からのずれが多少残っている場合であっても、高精度で形状を測定できる技術を提供する。
効果 カメラ座標系の座標軸と測定対象物の回転軸との平行からのずれが多少あっても、高精度で形状を測定できる。
技術概要
 
基準ワークを用いてカメラ座標系と基準座標系とのずれ量を測定し、測定結果に基づいて角度補正行列Mθ、軸合わせ行列MAを求める。そして、測定対象物の所定回転角度毎に測定した形状データをこれらの行列Mθ、MAを用いて座標変換し、測定対象物の全体的な形状を得る。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】
実施権条件 相手との交渉による

アピール情報

導入メリット 【改善】
改善効果1 カメラ座標系の座標軸と測定対象物の回転軸との平行からのずれが多少あっても、高精度で形状を測定できる。

登録者情報

その他の情報

その他の提供特許
登録番号1 4552907
関連特許
国内 【有】
国外 【無】   
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