| 出願番号 |
特願2008-331431 |
| 出願日 |
2008/12/25 |
| 出願人 |
国立大学法人 筑波大学 |
| 公開番号 |
特開2010-151684 |
| 公開日 |
2010/7/8 |
| 発明の名称 |
局所的な複屈折情報を抽出可能な偏光感受光画像計測装置 |
| 技術分野 |
電気・電子、情報・通信 |
| 機能 |
検査・検出 |
| 適用製品 |
光コヒーレンストモグラフィー（ＯＣＴ：Ｏｐｔｉｃａｌ ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）に関し、特に、局所的な複屈折（偏光）情報を抽出可能な偏光感受光画像計測装置 |
| 目的 |
本発明は、試料の深さ方向の局所的な複屈折（偏光）情報の取得において、スペックル雑音等に起因する測定雑音による影響を抑制し、高コントラストに局所偏光特性を計測することを目的とするものであり、この断層情報を高精度に解析し、上記断層情報から試料の局所的（ローカル）な複屈折情報を抽出し、可視化しようとするものである。 |
| 効果 |
試料の断層情報から、所定の領域（例えば、試料の深さ方向に１００μｍ幅のエリア）の局所偏光場を計測する画像処理手段、即ち、深さ方向にある程度離れた画素の２つの累積されたジョーンズマトリックスを用いることで計算される局所位相遅延量を増大させ、高コントラストの深さ方向の局所偏光情報（局所的な複屈折情報）を抽出する画像処理手段を備えた局所複屈折トモグラフィーを実現することができる。 |
技術概要
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偏光感受光画像計測装置１の参照アーム６からの参照光と試料アーム７からの物体光が重畳された干渉光を、回折格子１９で分光し、光検出器２２、２３は、回折格子１９で分光されたスペクトル干渉成分を測定し、試料の深さ方向に累積した複屈折情報からなる断層像を示す画像情報として取得し、その画像情報を画像処理装置に入力させ、画像処理装置において、画像情報から、深さ方向に離れた２カ所間の領域の局所的な複屈折情報を抽出して、該複屈折情報を可視化することを特徴とする。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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