| 出願番号 |
特願2008-331434 |
| 出願日 |
2008/12/25 |
| 出願人 |
国立大学法人 筑波大学 |
| 公開番号 |
特開2010-151685 |
| 公開日 |
2010/7/8 |
| 発明の名称 |
光画像計測装置における画像情報の解析及び組織判別可視化装置 |
| 技術分野 |
電気・電子、情報・通信 |
| 機能 |
検査・検出 |
| 適用製品 |
光画像計測装置（光コヒーレンストモグラフィー（ＯＣＴ：Ｏｐｔｉｃａｌ ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ））などの画像解析及び組織判別可視化装置 |
| 目的 |
従来の光画像計測装置では、試料について組織の形態的な特徴を計測することは可能であったが、組織の違いを可視化することは困難であった。本発明は、試料についてその組織の画像特性に対する事前知識なくても、特定組織を判別表示することが可能となる光画像計測装置における画像情報の解析及び組織判別可視化装置を実現する。 |
| 効果 |
本発明によれば、光画像計測装置の画像解析し、組織判別可視化が行われるから、試料について、その組織の画像特性に対する事前知識なくても、特定組織を判別表示することが可能となる。 |
技術概要
 |
基準となる試料断層像から所定の２種類以上のパラメータである物理量の値を、断層像の複数の点に対応し画像情報から前記抽出手段で抽出し、該抽出されたパラメータ値を、前記複数のパラメータである物理量を規定する座標上にプロットし、プロットされた断層像の複数の点を分類する基準を設定し、被計測試料の断層像に含まれる特性を示す複数のパラメータである物理量の中から選択された所定の２以上のパラメータである物理量の値を、断層像の複数の点に対応し画像情報から抽出し、前記基準で分類し、該分類に対応した断層像の領域にカラーを付す。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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