| 出願番号 |
特願2010-066164 |
| 出願日 |
2010/3/23 |
| 出願人 |
国立大学法人 筑波大学 |
| 公開番号 |
特開2010-151839 |
| 公開日 |
2010/7/8 |
| 登録番号 |
特許第5298264号 |
| 特許権者 |
国立大学法人 筑波大学 |
| 発明の名称 |
ヘテロダインビートプローブ走査プローブトンネル顕微鏡およびこれによってトンネル電流に重畳された微小信号の計測方法 |
| 技術分野 |
電気・電子、情報・通信 |
| 機能 |
検査・検出 |
| 適用製品 |
走査プローブ顕微鏡、特にヘテロダインビートプローブ高周波プローブトンネル顕微鏡およびこれによるトンネル電流に重畳された微小信号の計測方法 |
| 目的 |
本発明は、かかる点に鑑み微小な信号、例えば微小なＲＦ信号検出を容易にかつ確実に行うことのできるヘテロダインビートプローブ走査プローブトンネル顕微鏡、更にはこの走査プローブトンネル顕微鏡によるトンネル電流に重畳された微小電流を計測可能にすることを目的とする。 |
| 効果 |
本発明によれば、既知の外部重畳高周波信号もしくは外部重畳電磁波を使用するために、微小な信号、例えば微小なＲＦ信号検出を容易かつ確実に行うことの出来るヘテロダインビートプローブトンネル走査プローブ顕微鏡、更にはこの顕微鏡を用いてヘテロダインビート信号を特定することによって微小信号を計測する方法を提供することができる。 |
技術概要
 |
付与された既知の外部重畳参照高周波信号もしくは外部重畳参照電磁波信号を、未知の高周波信号もしくは電磁波信号に重畳して量子干渉させる走査トンネル顕微鏡分析部を備え、外部重畳参照高周波信号もしくは外部重畳参照電磁波信号を、未知の高周波信号もしくは電磁波信号に漸近させ、周波数掃引させて量子干渉させ、該量子干渉に基づいて、ヘテロダインビート信号を生起することによる変調されたトンネル電流を発生させ、未知の高周波信号もしくは電磁波信号を検出する。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
)