三次元計測装置および三次元計測方法並びに三次元計測プログラム

開放特許情報番号
L2012001030
開放特許情報登録日
2012/3/16
最新更新日
2012/7/31

基本情報

出願番号 特願2004-336554
出願日 2004/11/19
出願人 学校法人福岡工業大学
公開番号 特開2006-145405
公開日 2006/6/8
登録番号 特許第4883517号
特許権者 学校法人福岡工業大学
発明の名称 三次元計測装置および三次元計測方法並びに三次元計測プログラム
技術分野 電気・電子、情報・通信
機能 制御・ソフトウェア、検査・検出
適用製品 三次元計測装置
目的 一回の投影で多くのパターン光情報を得ることができ、高速かつ高精度の三次元情報を得ることができる三次元計測装置および三次元計測方法並びに三次元計測プログラムの提供を目的とする。
効果 一回の投影で多くの個別パターンを有するパターン光を得ることができ、高速かつ高精度の三次元情報を得ることができるので三次元計測装置として有用である。特に、精度の高い三次元情報が一回の投影で得られ、短時間で計測を行うことができることから、人体の三次元計測装置としても有用であるので、特に医療、衣服設計、生活環境整備など分野での利用が可能となる。また、人体の三次元情報から体型の計測などもできるので、健康管理、ダイエットなど分野にも利用することができる。
技術概要
パターン形成手段は、計測対象物に投影する光のパターンであって各縞の強度値がそれぞれ異なる強度値で一定な縞状の光のパターンを形成する。 投影手段は、計測対象物にパターン形成手段により形成されたパターンの光(パターン光)を投影する。 撮像手段は、パターン光が投影された計測対象物を撮像して画像を取得する。 投影パターン光検出手段は、画像から投影されたパターン光(投影パターン光)を検出する。 方向角算出手段は、投影パターン光と元のパターン光とを比較して投影パターン光の方向角を算出する。 分割手段は、投影パターン光を周期ごとに分割する。 位相値算出手段は、周期ごとに分割された投影パターン光の各分割された領域内における計測点の位相値を算出する。 距離算出手段は、算出された位相値より計測点の奥行き距離を算出する。 三次元情報算出手段は、算出された計測点の奥行き距離を用いて計測対象物の三次元情報を算出する。
イメージ図
実施実績 【試作】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【有】
国外 【有】   
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