気孔率の計測システム

開放特許情報番号
L2012000614
開放特許情報登録日
2012/3/9
最新更新日
2015/10/9

基本情報

出願番号 特願2009-213877
出願日 2009/9/16
出願人 独立行政法人物質・材料研究機構
公開番号 特開2011-064512
公開日 2011/3/31
登録番号 特許第5493208号
特許権者 国立研究開発法人物質・材料研究機構
発明の名称 気孔率の計測システム
技術分野 電気・電子、情報・通信
機能 制御・ソフトウェア、検査・検出
適用製品 気孔率を計測する計測システム
目的 電極を必要とせずに、材料の気孔率を計測できるシステムの提供を目的とする。
効果 テラヘルツ帯の電磁波を透過可能な導電性を有しない材料であれば材料の如何にかかわらず、その気孔率を、非接触で計測することが可能となる。
技術概要
金属、セラミック或いは樹脂等で形成された材料の気孔率の計測システムであり、テラヘルツ帯の電磁波を被測定材料に照射する電磁波照射手段と、この電磁波照射により、被測定材料を透過したテラヘルツ帯電磁波より複素屈折率を演算する複素屈折率複屈折率演算手段と、その演算結果より得られた複素屈折率を方程式により演算して気孔率を演算する気孔率演算手段とを備える。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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