物質の状態の測定、検出方法及び検出装置

開放特許情報番号
L2012000382
開放特許情報登録日
2012/2/17
最新更新日
2017/6/26

基本情報

出願番号 特願2013-514046
出願日 2012/5/10
出願人 国立研究開発法人産業技術総合研究所
公開番号 WO2012/153793
公開日 2012/11/15
登録番号 特許第6112725号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 物質の状態の測定、検出方法及び検出装置
技術分野 情報・通信、電気・電子
機能 検査・検出
適用製品 物質の状態の測定、検出方法及び検出装置
目的 化学反応炉や反応装置内の物質の状態を、専用のセンサーを用いることなく非接触で簡便かつ安全に検出する方法を提供する。
効果 化学反応炉や反応装置内の物質の状態(温度、相状態、組成、異物や気泡の有無、それらの変化及び化学反応の進行)を、専用のセンサーを用いることなく非接触で簡便かつ安全に検出することができる。
技術概要
マイクロ波を照射することにより、被照射物質の温度、相状態、組成、異物や気泡の有無、それらの変化又は化学変化の進行を測定、検出する方法であって、前記物質にマイクロ波を照射し、マイクロ波の照射前後の変化から、被照射物質の状態を測定、検出する方法。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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