分光放射計の校正法

開放特許情報番号
L2012000378
開放特許情報登録日
2012/2/17
最新更新日
2015/12/22

基本情報

出願番号 特願2011-254053
出願日 2011/11/21
出願人 国立研究開発法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2013-108843
公開日 2013/6/6
登録番号 特許第5825632号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 分光放射計の校正法
技術分野 情報・通信
機能 材料・素材の製造、制御・ソフトウェア
適用製品 分光放射計の校正法、太陽光分光放射照度絶対測定用分光放射計の校正法
目的 分光放射計を精度よく校正できる校正法を提供する。
また、校正コストを低減する。
効果 本発明の校正法によれば、標準電球で校正するときの問題点を解決し、また、ラングレー法で実現しにくい問題を解決することができ、その結果、校正精度が向上した。また、校正するための気象条件がラングレー法より緩い、地上付近でもこの校正に適する気象条件もあり、校正の利便性がある。
装置を設置している場所で校正が可能であり、校正コストが大幅に削減できる。
波長の精密校正も可能で、分光放射計の性能を評価するには、この方法も期待されている。
技術概要
校正対象とした直達分光放射計と比較基準とした直達日射計を用いて直達太陽光を同時測定し、同時に、サンフォトメーター、マイクロ放射計など測定装置を用いて、大気状態を測定する。そして、大気モデルを利用して、測定場所で実測した気象データを用いて、大気圏外から大気を通して測定場所に到達するまでの直達太陽スペクトルを精度よく計算する。また、そのスペクトルの積分値、つまり直達日射照度を求めて、直達日射計の測定値と比べて、精度のよいスペクトルを選ぶ。そのスペクトルを仲介として、分光放射計を校正する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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