レーザーイオン化質量分析における試料導入方法および装置

開放特許情報番号
L2011006377
開放特許情報登録日
2011/12/22
最新更新日
2012/1/20

基本情報

出願番号 特願2010-524642
出願日 2008/8/14
出願人 国立大学法人九州大学
公開番号 WO2010/018629
公開日 2010/2/18
発明の名称 レーザーイオン化質量分析における試料導入方法および装置
技術分野 機械・加工、化学・薬品、その他
機能 検査・検出、機械・部品の製造、環境・リサイクル対策
適用製品 レーザーイオン化質量分析における試料導入方法、レーザーイオン化質量分析における試料導入装置、ダイオキシンの微量分析
目的 ガスクロマトグラフ/質量分析法は、環境試料などの分析に広く利用されており、分析感度を向上させるには、試料の分子密度が高い領域で試料分子をイオン化することが望ましい。しかし、従来のレーザーイオン化質量分析における試料導入方法では、イオンの走行速度が分布を持ち、ひいては質量分解能が低下してしまうといった問題があった。そこで、質量分解能の低下を抑止することができるレーザーイオン化質量分析における試料導入方法および装置を提供する。
効果 この方法・装置によると、試料ガスを噴出する軸に対して生成したイオンが飛行して検出される軸を交差させた斜方試料導入装置としたので、試料ガス中の原子・分子と生成されたイオンとの衝突を低減させ、質量分解能の低下を抑止することができる。このレーザーイオン化質量分析における試料導入方法および装置は、大気や土壌中の汚染物質であるダイオキシンなどを高感度・高精度に質量分析するツールとして利用可能である。
技術概要
ダイオキシン等の微量分析に用いられるレーザーイオン化質量分析装置の高感度検出方法および装置、特に、斜方試料導入方法および装置に関する。試料導入方法は、試料ガス(6)を噴出する軸(A)に対してイオン化用レーザー(7)により生成されたイオン(8)を飛行させて検出する軸(B)が斜め方向に交差するようにし、イオン(8)と試料ガス(6)中の原子・分子との衝突を低減させ、質量分解能の低下を抑止する。レーザーイオン化質量分析における試料導入装置は、クロマトグラフ(1)から溶出した試料を導入する導入部(2)と、導入部(2)に斜め方向に角度を傾けて配置されるノズル(3)と、ノズル(3)から試料が導入されるイオン化室(5)と、イオン化室(5)中の試料ガス(6)に照射されるイオン化用レーザー(7)と、試料ガス(6)中の分子へのイオン化用レーザー(7)の照射により生成されるイオン(8)と、イオン(8)を飛行させる加速電極(C)及び引き出し電極(D)とを備え、試料ガス(6)を噴出する軸(A)に対してイオン化用レーザー(7)により生成されたイオン(8)を飛行させて検出する軸(B)が斜め方向に交差するように構成する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【有】
国外 【有】   
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