周波数解析装置

開放特許情報番号

L2011006175

開放特許情報登録日

2011/12/16

最新更新日

2015/11/2

基本情報

出願番号	特願2011-190429
出願日	2011/9/1
出願人	国立研究開発法人産業技術総合研究所
公開番号	特開2013-053861
公開日	2013/3/21
登録番号	特許第5777102号
特許権者	国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称	周波数解析装置
技術分野	情報・通信
機能	機械・部品の製造、制御・ソフトウェア
適用製品	周波数解析装置
目的	非同期サンプリングとなる場合であっても、高精度に周波数計測、振幅計測、位相計測を行うことが可能な周波数解析装置を提供する。
効果	非同期サンプリングとなる場合、例えば周波数が変動する場合や、周波数が未知である場合であってもリーケージスペクトラムによる誤差を抑制することが可能となり、高精度に振幅計測、位相計測を行うことができる。 また、本発明を周波数算定に適用する場合、周波数測定器を用いることなく、非同期サンプリングのサンプリングデータに基づいて、高精度に入力信号の周波数を算定することが可能となる。
技術概要	入力信号を所定周波数と同期する間隔で所定周期分、サンプリングするサンプリング部と、 入力信号の周波数を決定する周波数決定部と、 前記周波数決定部で決定された周波数に基づいて前記サンプリング部により得られたサンプリングデータのサンプル数を補正するサンプル数補正部と、 サンプル数が補正されたサンプリングデータと前記周波数決定部で決定された周波数に基づいて、台形近似補正を行って離散フーリエ変換演算を行う離散フーリエ変換演算部と、 を有する周波数解析装置。
実施実績	【無】
許諾実績	【無】
特許権譲渡	【否】
特許権実施許諾	【可】

登録者情報

登録者名称	国立研究開発法人産業技術総合研究所

その他の情報

関連特許	国内 【無】 国外 【無】