| 出願番号 |
特願2005-015801 |
| 出願日 |
2005/1/24 |
| 出願人 |
国立大学法人 新潟大学 |
| 公開番号 |
特開2006-201130 |
| 公開日 |
2006/8/3 |
| 登録番号 |
特許第4590553号 |
| 特許権者 |
国立大学法人 新潟大学 |
| 発明の名称 |
生籾被害粒の非破壊判定方法 |
| 技術分野 |
電気・電子 |
| 機能 |
検査・検出 |
| 適用製品 |
生籾被害粒、非破壊判定方法 |
| 目的 |
籾摺り処理を行う前の生籾の状態で、斑点着色粒等の被害粒を非破壊的に検出可能な生籾被害粒の非破壊判定方法及びその装置の提供。 |
| 効果 |
生籾の状態で内部の斑点着色粒等の被害粒を非破壊的に判定することが可能であるため、収穫直後或いは流通前に品質判定を行うことにより高品質米を確保することができ、商品の差別化を行うことができる。また、共同乾燥する前に個別農家の斑点着色被害率を判定することが可能となり、地域全体の減収防止や栽培指導にも大きな効果を発揮することができる。 |
技術概要
 |
この技術では、生籾被害粒の非破壊判定方法は、籾の一側面に光を照射し籾を透過した透過光から得られる５３０〜６３０ｎｍの範囲内の第１の波長及び第２の波長における透過光画像をそれぞれ得て、第１の波長の透過光画像の平均輝度値又は検出画素数並びに第２の波長の透過光画像の平均輝度値又は検出画素数をそれぞれ算出し、第１の波長の透過光画像の平均輝度値又は検出画素数並びに第２の波長の透過光画像の平均輝度値又は検出画素数を予め設定された閾値と比較して被害粒か否かを判定する生籾被害粒の非破壊判定方法とする。閾値は、整粒と被害粒を無作為に混合した籾を用いて第１の波長の透過光画像の平均輝度値又は検出画素数並びに第２の波長の透過光画像の平均輝度値又は検出画素数をそれぞれ算出し、第１の波長の透過光画像の平均輝度値又は検出画素数を一方の軸とし第２の波長の透過光画像の平均輝度値又は検出画素数を他方の軸とした散布図を作成して設けたものとする。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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