変位分布計測方法、装置及びプログラム

開放特許情報番号
L2011005781
開放特許情報登録日
2011/11/18
最新更新日
2013/11/29

基本情報

出願番号 特願2009-210972
出願日 2009/9/11
出願人 国立大学法人 和歌山大学
公開番号 特開2011-059017
公開日 2011/3/24
登録番号 特許第5354675号
特許権者 国立大学法人 和歌山大学
発明の名称 変位分布計測方法、装置及びプログラム
技術分野 電気・電子、情報・通信
機能 制御・ソフトウェア、検査・検出
適用製品 位相シフトデジタルホログラフィにより複数台の撮像素子を使用して計測物体の変位分布を計測する変位分布計測装置
目的 計測物体の変位分布を高速に計測するとともに小型化が可能な変位分布計測方法、装置及びプログラムを提供する。
効果 光源を1つにして光学系を簡素化することにより計測装置を小型化できるとともに、位相シフト回数の低減とシャッターの切り換え工程の省略により計測物体の変位分布やひずみ分布を高速に計測することができる。
技術概要
off−axis光学系における位相シフトデジタルホログラフィにより計測物体の変形による変位を計測する変位分布計測方法は、所定の波長のレーザ光を放射するステップと、放射されたレーザ光を、計測物体に照射するための物体光と、物体光との干渉縞を生成するための参照光とに分離するステップと、参照光の位相を所定量だけシフトさせるステップと、光軸が互いに平行である所定の数の撮像素子の各々に入射するために位相シフトされた参照光を複数に分岐するステップと、計測物体により散乱された物体光と、分岐された各参照光との干渉縞を各撮像素子により撮像するステップと、各撮像素子により撮像された干渉縞の各々から計測物体の再生像の複素振幅分布を算出し、計測物体の変形前後の複素振幅分布の位相差から計測物体の変位分布を計測するステップとを含む。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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