| 出願番号 |
特願2003-328990 |
| 出願日 |
2003/9/19 |
| 出願人 |
国立大学法人 和歌山大学 |
| 公開番号 |
特開2005-091325 |
| 公開日 |
2005/4/7 |
| 登録番号 |
特許第3870269号 |
| 特許権者 |
国立大学法人 和歌山大学 |
| 発明の名称 |
エイリアシングを利用した干渉縞の位相解析方法 |
| 技術分野 |
情報・通信 |
| 機能 |
制御・ソフトウェア、検査・検出 |
| 適用製品 |
形状計測、形状検査、変形・ひずみ計測等の分野において、得られた干渉縞又は投影格子の位相を解析する方法 |
| 目的 |
本来避けるべきエイリアシングを逆に利用し、少ないサンプリング数で干渉縞又は投影格子の位相を解析することができる位相解析方法の提供を目的とする。 |
| 効果 |
エイリアシングを用いることにより、これまで必要とされてきた最低サンプリング数より少ないサンプリング数で干渉縞の位相を決定することができる。本発明による干渉縞又は投影格子の位相解析方法を、格子投影による形状計測や、モアレ干渉縞解析によるひずみ計測等に適用することができる。 |
技術概要
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干渉縞位相解析方法は、ｆとｆｓａｍを自然数とし、ｆｓａｍ＜２ｆとして、干渉縞の位相を２πｆ変化させる間にｆｓａｍ回撮影して得た画像から干渉縞の位相を解析する方法である。 ｋを任意の自然数として、ｆ'＝ｆ±ｋｆｓａｍ によって与えられるエイリアシングによって生じる周波数成分をフーリエ変換して得て、その周波数成分の複素数の偏角として干渉縞の位相を得る。 |
| イメージ図 |
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| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
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