| 出願番号 |
特願2003-328230 |
| 出願日 |
2003/9/19 |
| 出願人 |
国立大学法人 和歌山大学 |
| 公開番号 |
特開2005-091284 |
| 公開日 |
2005/4/7 |
| 登録番号 |
特許第3855062号 |
| 特許権者 |
国立大学法人 和歌山大学 |
| 発明の名称 |
単調増加波形投影による連続物体の形状計測方法及び装置 |
| 技術分野 |
情報・通信、機械・加工、その他 |
| 機能 |
検査・検出、制御・ソフトウェア、その他 |
| 適用製品 |
基準平面上をほぼ一定速度で移動する物体の形状を測定する形状計測方法及び装置。 |
| 目的 |
連続物体の形状を高速に計測することができ、影となって撮影できない部分の判定を短時間で行うことができる物体計測方法及び装置を提供すること。 |
| 効果 |
３本のラインセンサを使用して連続物体の形状計測を高速に行なる。高さ変換テーブルを予め作成しておくことで、短時間に高さ分布の結果を得られる。また、影となって測定できない部分の判定を短時間で行うことができる。 |
技術概要
 |
基準平面上をほぼ一定速度で移動する物体の形状を測定する形状計測方法は、基準平面にほぼ垂直に配置した第１ラインセンサによって物体を撮影するステップと、基準平面にほぼ垂直に、第１ラインセンサとある距離だけ物体の移動方向に離れて配置された第２ラインセンサによって、斜め方向からほぼ一定の輝度分布の光を照射された物体を撮影するステップと、基準平面にほぼ垂直に、第２ラインセンサとある距離だけ物体の移動方向に離れて配置された第３ラインセンサにて、斜め方向から濃度傾斜パターンを有する光を照射された物体を撮影するステップと、第１ラインセンサによって撮影された物体のある点の輝度をＩ↓１、第２ラインセンサによって撮影された物体の同じ点の輝度をＩ↓２、第３ラインセンサによって撮影された物体の同じ点の輝度をＩ↓３とし、輝度比Ｊ＝（Ｉ↓３−Ｉ↓１）／（Ｉ↓２−Ｉ↓１）を物体の同じ点における高さｈの関数Ｆ（ｈ）として表し、高さｈをｈ＝Ｆ↑−↑１（Ｊ）によって決定するステップとを含む。 |
| イメージ図 |
|
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
)
)
)
)