単色矩形波格子を用いる形状計測方法及び形状計測装置

開放特許情報番号
L2011005752
開放特許情報登録日
2011/11/18
最新更新日
2011/11/18

基本情報

出願番号 特願2001-315178
出願日 2001/10/12
出願人 和歌山大学長
公開番号 特開2003-121124
公開日 2003/4/23
登録番号 特許第3500430号
特許権者 国立大学法人和歌山大学
発明の名称 単色矩形波格子を用いる形状計測方法及び形状計測装置
技術分野 情報・通信
機能 制御・ソフトウェア、検査・検出
適用製品 計測装置、形状計測、監視装置の分野に関係し、特に、非接触で物体の等高線の位相分布を得る形状計測
目的 非接触で物体の高さ分布を得る形状計測方法の提供を目的とする。
効果 従来より高分解能、または高さ方向に広範囲に形状計測を行うことが可能となる。従来はカラー格子を用いていたが、この方法では単色格子を用いているため、通常のCCDカメラで解析することができる。また、色分離を行う必要がないため、特殊な手段や装置を必要とせず、位相接続を行うことができるため、従来よりも高分解能に形状計測を行うことが可能となる。 過去に撮影されたm×n枚の画像から各矩形波成分の位相値をそれぞれ求めることができるため、1フレーム撮影毎に結果が得られるといった利点もある。
技術概要
形状測定方法は、各々の白黒比が異なり、互いのピッチ比が、mとnを3以上の互いに素である整数として、m:nである2つの異なる矩形波成分を合成した単色矩形波格子を物体に投影するステップと、この単色矩形波格子全体の周期の1/(m×n)ずつずらしてm×n枚の画像を撮影するステップと、m×n枚の画像のうちm枚おきに抜き出したn枚の画像から周期がm/(m×n)の矩形波成分に関する位相分布を求め、n枚おきに抜き出したm枚の画像から周期がm/(m×n)の矩形波成分に関する位相分布を求めるステップと、双方の矩形波成分に関する位相分布から物体の高さ分布に対応する連続化された位相分布を得るステップとを含む。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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