流体中微粒子のX線検出法

開放特許情報番号
L2011005688
開放特許情報登録日
2011/11/11
最新更新日
2011/11/11

基本情報

出願番号 特願2010-005933
出願日 2010/1/14
出願人 独立行政法人日本原子力研究開発機構
公開番号 特開2011-145162
公開日 2011/7/28
発明の名称 流体中微粒子のX線検出法
技術分野 電気・電子
機能 機械・部品の製造、検査・検出
適用製品 流体中微粒子のX線検出システム
目的 散乱法や遮光法における気泡による計測誤差、異種元素によるカウントロス、乳化による計測不能などの問題を解決し、低コストで簡易に、流体中の微粒子の数量及び粒子径などを正確に測定できる方法及び装置を提供する。
効果 微粒子の光学特性に依存せずに、減弱X線量の計測及び蛍光X線検出により微粒子を元素別に検出することができる。このため、散乱法及び遮光法では解決困難であった微粒子のカウントロス、液体中気泡による誤計測及び乳化による計測不能などの問題を生じることなく、正確な計測が可能である。
技術概要
図1は、流体中微粒子計測装置の概念図、図2は、図1での透過X線ビームの断面と直径方向の透過X線強度分布との関係を示す説明図、図3は、図1での流体中微粒子計測装置により検出される透過X線量の変化を示すグラフ、図4は、微粒子計測装置により検出される蛍光X線スペクトルである。(a)はシリコン系潤滑油中のSiのピークであり、(b)は同じ潤滑油中のFeのピークを示す。流体中微粒子の検出装置1は、流体を流すフローセル10と、フローセル10の側面からX線を照射するX線源20と、X線源20から照射されたX線が流体中の微粒子によって減弱された透過X線量を検出するX線検出器30と、X線源から照射されたX線により当該流体中の微粒子によって放出される蛍光X線を検出する蛍光X線検出器40と、透過X線量及び蛍光X線量の各基準量からの変動量に基づいて流体中の微粒子及び気泡を識別して微粒子の量及び粒径を算出する演算処理装置と、を具備する。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

アピール情報

導入メリット 【改善】
改善効果1 従来技術よりも精度の高い微粒子計測を短時間で実現することができる。この装置は、気泡の脱泡、除去や分離のための機器を必要としないために、単純な構成である。さらに、微粒子計測の精度が向上するため液体中の微粒子管理、メンテナンスが容易になり、液体の品質向上に繋がる。
改善効果2 液体の品質向上は、液体の工業製品を製造または検査する食品、薬品、医療、化学工業、工業機械等の幅広い産業分野において、液体中の異物微粒子の管理に役立ち製品等の生産性の向上をもたらすことが期待できる。例えば、潤滑油の品質管理が計測精度の向上により厳密なり、さらに潤滑油の計測、分析時間の短縮にも効果を発揮するため、結果として潤滑油を用いた機械等の稼働率の向上、機械の生産性向上に繋がると予想される。

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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