カム表面の観察方法

開放特許情報番号
L2011005432
開放特許情報登録日
2011/10/21
最新更新日
2015/5/20

基本情報

出願番号 特願2011-045375
出願日 2011/3/2
出願人 国立大学法人 新潟大学
公開番号 特開2012-181150
公開日 2012/9/20
登録番号 特許第5716459号
特許権者 国立大学法人 新潟大学
発明の名称 カム表面の観察方法
技術分野 情報・通信
機能 制御・ソフトウェア
適用製品 広視野レーザ顕微鏡によるカム表面の観察方法
目的 カム表面を観察することのできる、広視野レーザ顕微鏡を用いた新規のカム表面の観察方法を提供する。
効果 本発明のカム表面の観察方法によれば、カム表面を有するカムシャフトをその軸を中心に回転させるとともに、移動させながら計測することにより、カム表面の全面を簡単に、かつ、短時間で計測することができる。
走査光をカム表面の母線に沿って走査させることにより、カム表面を一回転させるだけでカム表面の観察が可能となり、短時間で計測することができ、カム表面の3次元画像を作成して表示手段に表示することにより、測定結果を視覚的に分かりやすく表示することができる。
技術概要
テレセントリックfθレンズ8の焦点面近傍に近接配置したカム表面10からの反射光をテレセントリックfθレンズ8により平行光束に変換し、走査ミラー7で反射させた後に、結像レンズ11によって集光してテレセントリックfθレンズ8の焦点面と共役の位置に設置したピンホール12aを通過させ、ピンホール12aを通過した反射光の光量を受光素子13で計測する。カム表面10を有するカムシャフト9をその軸zを中心に回転させるとともに、レーザ光に対してカム表面10が常に垂直になり、かつ、レーザ光の焦点が常にカム表面10に位置するように、カムシャフト9を移動させながら観察する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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