電磁気特性の測定方法

開放特許情報番号
L2011005019
開放特許情報登録日
2011/9/16
最新更新日
2014/2/26

基本情報

出願番号 特願2007-082678
出願日 2007/3/27
出願人 学校法人立命館
公開番号 特開2008-241468
公開日 2008/10/9
登録番号 特許第5428085号
特許権者 学校法人立命館
発明の名称 電磁気特性の測定方法
技術分野 電気・電子
機能 検査・検出、機械・部品の製造、その他
適用製品 同軸線路を用いて広帯域における複素誘電率、さらには複素透磁率を高精度に測定することが可能な電磁気特性の測定方法
目的 この発明は、広帯域において複素誘電率や複素透磁率を高精度に測定することが可能な電磁気特性の測定方法を提供する。
効果 この発明の電磁気特性の測定方法によれば、軸方向直交断面に空隙を設けて被測定試料を装荷した同軸線路に電磁波を入射し、複素透過係数を測定する。そのため、被測定試料を断面全面に隙間なく充填する必要がないので、被測定試料の作成時に高い寸法精度が求められない。また、電磁波吸収体のような高損失材料を被測定試料とする場合であっても、断面全面に充填する場合に比べて透過波が微弱とならないので、高精度に測定することが可能となる。
技術概要
連続的な周波数帯域における電気特性を矩形導波管や同軸線路を用いて測定する方法がある。この方法は、被測定試料を充填した矩形導波管や同軸線路に電磁波を入射して複素反射係数や複素透過係数を測定し、電磁界解析を用いて測定した値に基き複素誘電率や複素透磁率を求めるものである。しかし、空隙が存在する、あるいは被測定試料が変形すると、測定誤差となるため、被測定試料を断面全面に隙間なく充填する必要があり、被測定試料の作成時に高い寸法精度が求められていた。この発明の電磁気特性の測定方法は、軸方向直交断面に空隙を設けて被測定試料を装荷した同軸線路に電磁波を入射し、複素透過係数を測定するステップと、同軸線路内の空間を複数の均質な領域に分割し、その領域の境界面において電磁界の連続条件が満たされるよう、測定した複素透過係数から、被測定試料の複素誘電率を求めるステップとを備えることを特徴としている。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

登録者名称 立命館大学

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
Copyright © 2018 INPIT