| 出願番号 |
特願2006-001835 |
| 出願日 |
2006/1/6 |
| 出願人 |
国立大学法人広島大学 |
| 公開番号 |
特開2007-183186 |
| 公開日 |
2007/7/19 |
| 登録番号 |
特許第4867003号 |
| 特許権者 |
国立大学法人広島大学 |
| 発明の名称 |
荷電粒子検出方法、これを用いる荷電粒子制御方法 |
| 技術分野 |
電気・電子 |
| 機能 |
検査・検出 |
| 適用製品 |
素粒子やイオンを含む荷電粒子の通過、入射などを検出する荷電粒子検出方法とこれを用いる荷電粒子制御方法 |
| 目的 |
荷電粒子のエネルギーや運動量を大きく変化させることなく、高Ｓ／Ｎ比で荷電粒子を検出することのできる荷電粒子検出方法、これを用いる荷電粒子制御方法の提供。 |
| 効果 |
本技術に係る荷電粒子検出方法によれば、非接触ないし非破壊の状態を保ちながら、高Ｓ／Ｎ比にて荷電粒子を検出することができる。 |
技術概要
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この技術は、外部を通過する荷電粒子によって生じる電場により結晶の内部に電気光学的に生じる屈折率変化を検出することによって、荷電粒子を検出する荷電粒子検出方法であって、結晶の内部に光を照射し、光照射されて結晶を通過する光を、屈折率変化に基づく光学的位相変化が生じている光成分と、屈折率変化に基づく光学的位相変化が生じていない光成分とに分離する。そして、分離された光学的位相変化が生じている光成分を検出することによって、荷電粒子を検出する。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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