核磁気共鳴撮像システム及び撮像方法

開放特許情報番号
L2011004452
開放特許情報登録日
2011/9/2
最新更新日
2015/11/9

基本情報

出願番号 特願2007-145488
出願日 2007/5/31
出願人 独立行政法人科学技術振興機構
公開番号 特開2008-298612
公開日 2008/12/11
登録番号 特許第5105410号
特許権者 国立研究開発法人科学技術振興機構
発明の名称 核磁気共鳴撮像システム及び撮像方法
技術分野 電気・電子
機能 機械・部品の製造
適用製品 核磁気共鳴現象、核磁気共鳴撮像素子
目的 核磁気共鳴撮像法による測定対象物の画像取得を高い分解能で行うことが可能な核磁気共鳴撮像素子を用いた撮像システム、及び撮像方法の提供。
効果 設定された測定位置に対し、複数段階の操作過程を含む測定過程によって測定対象物の原子核の核スピンを操作した後に核磁気共鳴信号の検出を行って、測定位置における局所的な核スピンの情報を取得することにより、測定対象物の画像取得を高い分解能で効率的に行うことが可能となる。
技術概要
本技術における磁場印加用電極群は、測定領域について測定面を想定するとともに、測定領域に対して、設定すべき測定位置に応じた均一磁場を印加する均一磁場用電極と、測定面に平行なx軸方向について傾斜磁場を印加する第1傾斜磁場用電極と、測定面に平行でx軸と直交するy軸方向について傾斜磁場を印加する第2傾斜磁場用電極とを有して構成される。撮像制御手段は、x軸方向の位置Xm及びy軸方向の位置Ymが選択された測定位置(Xm,Ym)に対し、それぞれ所定条件で磁場印加用電極群による磁場の印加、及びRF照射手段によるRFパルスの照射を行う複数段階の操作過程を含む測定過程によって、測定位置における測定対象物の原子核の核スピンを操作した後、検出手段によって核磁気共鳴信号の検出を行って、測定位置における局所的な核スピンの情報を取得することを特徴とする。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

アピール情報

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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