臨界電流密度測定方法及びその装置

開放特許情報番号
L2011003733
開放特許情報登録日
2011/8/12
最新更新日
2015/10/2

基本情報

出願番号 特願2004-072223
出願日 2004/3/15
出願人 独立行政法人科学技術振興機構
公開番号 特開2005-257592
公開日 2005/9/22
登録番号 特許第4302556号
特許権者 国立研究開発法人科学技術振興機構
発明の名称 臨界電流密度測定方法及びその装置
技術分野 電気・電子
機能 検査・検出
適用製品 臨界電流密度測定方法、超電導線材
目的 長尺な高品質超電導線材の非破壊測定のための、永久磁石を用いた臨界電流密度の評価方法の提供。
効果 これまで非破壊測定不可能であった高臨界電流密度かつ厚膜線材の測定・評価が可能となる。永久磁石を使うのでFeNdB磁石のような数1000Gaussの磁場が作れる強力磁石を使うことにより10μm位の厚さまで計測できる。
技術概要
この技術では、臨界電流密度の測定装置は、演算処理手段と、この演算処理手段に接続されたロッド付き荷重測定センサーと、ロッドの先端に取り付けた永久磁石と、永久磁石に対向して配置される被検査体としての高温超電導薄膜とを備える。そして、永久磁石と高温超電導体間の斥力を荷重測定センサーによって求め、演算処理手段により斥力と高温超電導体薄膜厚とを基に予め求めておいたマップから被検査体の臨界電流密度を測定する。マップは、磁化特性法、四端子法、誘導法の何れかの方法で測定した値を基に作成したものとする。また、永久磁石と超電導体間の斥力を荷重測定センサーによって求め、この斥力と超電導体膜厚とを基に、予め求めておいたマップから被検査体の臨界電流密度を求めるものとする。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

アピール情報

登録者情報

登録者名称 国立研究開発法人科学技術振興機構

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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