深穴加工装置および深穴加工方法、深穴評価装置および深穴評価方法ならびに位置ずれ評価方法、深穴加工装置および深穴評価装置の光軸調整装置、光軸調整方法

開放特許情報番号
L2011003602
開放特許情報登録日
2011/8/5
最新更新日
2015/10/2

基本情報

出願番号 特願2002-259323
出願日 2002/9/4
出願人 独立行政法人科学技術振興機構
公開番号 特開2003-159607
公開日 2003/6/3
登録番号 特許第4302380号
特許権者 国立研究開発法人科学技術振興機構
発明の名称 深穴加工装置および深穴加工方法、深穴評価装置および深穴評価方法ならびに位置ずれ評価方法、深穴加工装置および深穴評価装置の光軸調整装置、光軸調整方法
技術分野 機械・加工
機能 機械・部品の製造
適用製品 航空機のエンジン、ランディングギア、新幹線の車軸、プラスチック射出成形機、印刷機の巻き取りシリンダ等の深穴加工に使用する深穴加工装置に適用する。
目的 特定の深穴加工工具の位置ずれ検出/修正手段等を備える深穴加工装置を提供する。
効果 従来よりも高精度な深穴加工ができる深穴加工装置が可能になる。
技術概要
被加工物4に対して回転しながら深穴加工を行う深穴加工工具5aと、深穴加工工具5aの垂直な平面における正常位置からの位置ずれを検出する位置ずれ検出手段13、14と、深穴加工工具5aの傾きを検出する傾き検出手段20と、位置ずれ検出手段13、14にレーザ光を照射する半導体レーザと、深穴加工工具5aの位置ずれを修正する位置ずれ修正手段15と、深穴加工工具5aの傾きを修正する圧電アクチュエータと、から構成され、深穴加工工具5aにおける平面上に位置する点であって、位置ずれ検出手段13、14にレーザ光を照射する半導体レーザの位置に対応する1点と、傾き検出手段20の位置に対応する他の1点との2点において、それぞれ位置ずれと傾きとを検出し、この2点における検出結果から位置ずれと傾きとが互いに干渉することで検出結果に含まれる干渉成分を除去する制御手段を備えている深穴加工装置にする。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

アピール情報

登録者情報

登録者名称 国立研究開発法人科学技術振興機構

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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