光学系の薄層斜光照明法

開放特許情報番号
L2011003535
開放特許情報登録日
2011/7/29
最新更新日
2015/12/4

基本情報

出願番号 特願2001-380967
出願日 2001/12/14
出願人 国立研究開発法人科学技術振興機構
公開番号 特開2003-185930
公開日 2003/7/3
登録番号 特許第3828799号
特許権者 国立研究開発法人科学技術振興機構
発明の名称 光学系の薄層斜光照明法
技術分野 情報・通信、電気・電子、その他
機能 検査・検出、機械・部品の製造、その他
適用製品 蛍光顕微鏡や暗視野顕微鏡などの光学顕微鏡はもとより、対物レンズを用いたレンズ光学系にも広く適用
目的 この発明は、顕微鏡と同等の光学系を用いて、物質や分子の高感度検出と光学顕微鏡における低背景・高感度観察が可能な薄層斜光照明法を提供する。
効果 この発明によれば、対物レンズを用いた斜光照明において、薄い層状の光で試料を照明することにより、各種の顕微鏡及び光を用いた検出において、低背景の画像及び低バックグラウンドのシグナルを得ることができる。その結果として、高感度・高いS/N比の画像及びシグナルを得ることができる。また、薄層光照明を用いた顕微鏡観察から、焦点位置を移動させながら連続画像を得て、デコンボリューションによってセクショニング画像及び3次元画像を得ることができ、背景光の低い高画質が得られる。
技術概要
通常の光学顕微鏡や落射照明法による蛍光顕微鏡において、セクショニング像や3次元画像を得る方法としては、焦点を連続的に変化させて得た連続画像からデコンボリューションによって計算する方法が用いられている。これは、試料上の1点から出た光の像が、焦点からはずれた時にどうなるかを予め知っておくことにより、計算によって元の3次元像を計算するものであるが、厚みのある試料や、明るい中にある暗い部分を観察する場合には、この方法では限界がある。また、他のレーザー光照射法などでは、生物試料に損傷を与えるなどの難点があった。 この発明の照明法は、対物レンズを用いたレンズ光学系の斜光照明において、試料観察面での照射半径をr、試料における照明光の厚さをd、試料における照明光の入射角(又は、照明光と対物レンズ光軸とのなす角)をθとすると、d=2r・cosθの式により計算される試料における照明光の厚さdが20μm以下になるように、対物レンズの縁に光を入射し、試料への照明光の入射角度を対物レンズ光軸に垂直に近い角度にし、照明光の対物レンズ入射の開き角の半分δφを小さくして、照射領域を絞ることにより、薄い層状の光で試料を照明する。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

アピール情報

登録者情報

登録者名称 国立研究開発法人科学技術振興機構

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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