レーザ共鳴イオン化質量分析装置

開放特許情報番号
L2011002997
開放特許情報登録日
2011/7/1
最新更新日
2015/10/26

基本情報

出願番号 特願2009-188331
出願日 2009/8/17
出願人 独立行政法人日本原子力研究開発機構
公開番号 特開2011-040319
公開日 2011/2/24
登録番号 特許第5327678号
特許権者 国立研究開発法人日本原子力研究開発機構
発明の名称 レーザ共鳴イオン化質量分析装置
技術分野 電気・電子、機械・加工、その他
機能 検査・検出、機械・部品の製造、安全・福祉対策
適用製品 質量分析装置
目的 この発明は、レーザ共鳴イオン化質量分析装置において、分析目的のガス以外のガスのイオンが検出信号に影響することを軽減した装置を提供する。
効果 この発明によれば、制御電極におけるイオン引き出し窓をレーザビームの通路に沿ったスリット形状とすることにより、レーザビームに沿って生成される分析目的のスイオンを有効に引き出すことができ、光電子等によって制御電極の間の広い範囲に生成される分析目的以外のガスイオンについては引き出し窓から引き出されるのを軽減することができる。
技術概要
高速炉の破損燃料検出の一手法であるタギング法は、燃料棒ごとに同位体比を変えたKrやXe等のタグガスを予め燃料被覆管内に封入しておき、燃料破損時に放出されてカバーガス空間に混入するタグガスの同位体比をレーザ共鳴イオン化質量分析装置などで分析する方法である。しかし、分析性能を高めようとすると、サンプリングガス中に含まれるカバーガスの一部がイオン化したカバーガスイオンもタグガスイオンと共に検出されてしまうために検出信号に与える影響が大きくなる問題がある。この発明の装置は、イオン化室に導入したカバーガスとタグガスの混合ガスにイオン引出し電極8112a,8112bの間においてレーザビーム83を照射してタグガスを共鳴励起・イオン化するときに、レーザ光の散乱により放出される光電子等によってカバーガスが非共鳴反応によりイオン化されることにより制御電極の間の広い範囲で生成され、分析目的のタグガスイオンは、照射されるレーザビームに沿って生成されることに着目し、イオン引出し電極8112bにおけるイオン引き出し窓8112b1をレーザビームの通路に沿ったスリット形状とすることにより、カバーガスイオンが引き出されるのを抑制する。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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