テスト仕様生成装置、テスト仕様生成方法、およびプログラム

開放特許情報番号
L2011002813
開放特許情報登録日
2011/6/17
最新更新日
2015/6/26

基本情報

出願番号 特願2013-505910
出願日 2012/3/13
出願人 国立研究開発法人産業技術総合研究所
公開番号 WO2012/128120
公開日 2012/9/27
登録番号 特許第5729465号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 テスト仕様生成装置、テスト仕様生成方法、およびプログラム
技術分野 情報・通信
機能 制御・ソフトウェア、機械・部品の製造
適用製品 テスト仕様生成装置
目的 従来技術において、設計段階での仕様記述の支援は行えても、テスト工程の支援は不十分で、テスト設計のために多大な労力を要していた。
効果 対象の設計時に、形式的に記載された仕様の中で、テスト設計のための情報を記載すれば、適切なテスト仕様に関する情報が自動生成できる。
対象の設計時にテスト設計のための情報を記載すれば適切なテスト仕様に関する情報が自動生成できる、という効果を有し、テスト支援装置等として有用である。
技術概要
テストで利用する情報であるテスト情報を格納し得るテスト情報格納部と、対象の仕様について記述する言語である仕様記述言語で記述された対象の仕様に関する情報であり、1以上の変数の宣言を含む情報であり、テスト情報を生成するためのテスト元情報を含む情報である仕様記述情報を格納し得る仕様記述情報格納部と、変数の宣言およびテスト元情報を用いて、1以上の各変数の入力値を少なくとも有する1以上のテスト情報を取得するテスト情報取得部と、テスト情報取得部が取得した1以上のテスト情報をテスト情報格納部に蓄積するテスト情報蓄積部とを具備するテスト仕様生成装置により、対象の設計時にテスト設計のための情報を記載すれば、適切なテスト仕様に関する情報が自動生成できる。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
Copyright © 2018 INPIT