X線CT装置の校正及び評価用の標準ゲージ、並びに該X線CT装置の校正及び評価用の標準ゲージを用いたX線CT装置の校正方法及び評価方法     筆頭発明者:藤本 弘之

開放特許情報番号
L2011002806
開放特許情報登録日
2011/6/17
最新更新日
2012/11/30

基本情報

出願番号 特願2011-054883
出願日 2011/3/13
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2012-189517
公開日 2012/10/4
発明の名称 X線CT装置の校正及び評価用の標準ゲージ、並びに該X線CT装置の校正及び評価用の標準ゲージを用いたX線CT装置の校正方法及び評価方法
技術分野 情報・通信、食品・バイオ、化学・薬品
機能 その他
適用製品 X線CT装置から得られる投影イメージの寸法規格を校正し、該X線CT装置における形状測定性能の評価を行う標準ゲージ
目的 簡単に製造することができ、X線CT装置から得られる投影イメージにおいて、測定対象物の内部形状を含む形状寸法を精度良く校正することができ、かつ、該X線CT装置における内部形状を含む形状測定性能を効果的に評価することができるX線CT装置の校正及び評価用の標準ゲージ、並びに該X線CT用の標準ゲージを用いたX線CT装置の校正方法及び評価方法を提供する。
効果 従来技術における前記諸問題を解決することができ、簡単に製造することができ、X線CT装置から得られる投影イメージにおいて、測定対象物の内部形状を含む形状寸法を精度良く校正することができ、かつ、該X線CT装置における内部形状を含む形状測定性能を効果的に評価することができるX線CT装置の校正及び評価用の標準ゲージ、並びに該X線CT用の標準ゲージを用いたX線CT装置の校正方法及び評価方法を提供することができる。
技術概要
本発明のX線CT装置の校正及び評価用の標準ゲージ10は、ベリリウム成型体11と、該ベリリウム成型体11を内包し、X線CT装置から得られる投影イメージにおいてベリリウム成型体11と異なるコントラストで示される外装体12とを有することを特徴とする。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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