ちらつき知覚閾値の測定装置、測定方法及び測定プログラム

開放特許情報番号
L2011002803
開放特許情報登録日
2011/6/17
最新更新日
2015/10/1

基本情報

出願番号 特願2011-051418
出願日 2011/3/9
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2012-187181
公開日 2012/10/4
登録番号 特許第5515066号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 ちらつき知覚閾値の測定装置、測定方法及び測定プログラム
技術分野 食品・バイオ、化学・薬品
機能 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア
適用製品 短時間で閾値を測定することができる、ちらつき知覚閾値の測定装置、測定方法及び測定プログラム
目的 短時間にちらつきの知覚閾値を測定可能な測定装置、測定方法及び測定プログラムを提供する。
効果 本発明によれば、繰返し測定において、測定条件(開始点、及び、周波数又はコントラスト変化の傾き)を適応的に設定するので、ちらつき知覚閾値を、従来よりも短時間に且つ精度よく測定することができる。また、正誤を判定できる画像パターンを被験者に提示することによって、測定時間の短縮に加えて、客観的且つ正確にちらつき知覚閾値を測定することができる。
技術概要
測定方法は、一定の周波数で、コントラストを開始値A↓iから傾き↓(ci)で変化させて点滅刺激を提示するステップと、点滅刺激を提示した状態で、被験者がちらつきを知覚して操作部を操作したときのコントラストの値を仮の閾値R↓iとして決定する処理を、複数回繰返すステップと、傾き↓(ci)及び所定時間TBの積に仮の閾値R↓iを加算した値を、次回の測定期間における開始値A↓(i+1)として決定するステップと、開始値A↓(i+1)及び直前の測定期間において使用された傾き↓(ci)よりも小さい傾き↓(ci+1)を使用して点滅刺激を提示するステップと、得られた複数の仮の閾値を用い、被験者のちらつき知覚閾値を決定するステップとを含む。これにより、従来よりも短い時間でちらつきの知覚閾値を測定することができる。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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