ナノ粒子の粒径測定装置及びナノ粒子の粒径測定方法

開放特許情報番号
L2011002270
開放特許情報登録日
2011/5/6
最新更新日
2011/5/6

基本情報

出願番号 特願2009-093541
出願日 2009/4/8
出願人 学校法人 中央大学
公開番号 特開2010-243374
公開日 2010/10/28
発明の名称 ナノ粒子の粒径測定装置及びナノ粒子の粒径測定方法
技術分野 電気・電子、情報・通信、化学・薬品
機能 制御・ソフトウェア、検査・検出、その他
適用製品 ナノ粒子の粒径測定装置。
目的 簡単な構成で、ナノ粒子の粒径を精度よく測定することのできるナノ粒子の粒径測定装置とナノ粒子の粒径測定方法を提供すること。
効果 ナノ粒子の粒径測定を簡便にかつ効率よく行える。また、流動状態にあるナノ粒子の粒径も精度よく測定することができ、血液中や製造途上における薬液中に存在するナノ粒子の粒径を流動状態のままオンラインで測定することができる。
技術概要
粒径が100nm以下のナノ粒子21を媒体22中に分散させた試料23が収納された測定用セル20に光源11からレーザー光を照射し、ナノ粒子21からの散乱光のうち散乱角がθである散乱光Bを検出器13で検出する際に、レーザー光の波長をλ=355nmとし、かつ、検出器13を測定用セル20から5cmの位置に配置して検出感度を大幅に向上させるとともに、測定用セル20と検出器13との間に二重スリット14を設けて、散乱角がθの散乱光Bのみを検出するようにした。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

登録者名称 中央大学

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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